Sample records for ДЭНЭ (leed)
from WorldWideScience.org

Sample records 1 - 17 shown.



1

Untersuchungen von Stufenverteilungen an der Si/SiO.-Grenzflache mit HR-SPA-LEED 0 ^aИсследование ступенчатых распределений на поверхности раздела Si/SiO. с помощью высокоразрешающего метода дифракции медленных электронов. Дис


Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : K Автор(ы) : Marienhoff P Заглавие : Untersuchungen von Stufenverteilungen an der Si/SiO.-Grenzflache mit HR-SPA-LEED : Diss Выходные данные : Hannover, 1988 Колич.характеристики :81 с Цена : Б.ц. УДК : Перейти к источнику в Интернете: Untersuchungen von Stufenverteilungen an der Si/SiO.-Grenzflache mit HR-SPA-LEED LEED

The Russian Union Catalog of Scientific Literature (Russian)

2

Untersuchungen von Stufenverteilungen an der Si/SiO.-Grenzflache mit HR-SPA-LEED 0 ^aИсследование ступенчатых распределений на поверхности раздела Si/SiO. с помощью высокоразрешающего метода дифракции медленных электронов. Дис


Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : K Автор(ы) : Marienhoff P Заглавие : Untersuchungen von Stufenverteilungen an der Si/SiO.-Grenzflache mit HR-SPA-LEED : Diss Выходные данные : Hannover, 1988 Колич.характеристики :81 с Цена : Б.ц. ГРНТИ : ; 45.09 УДК : Перейти к источнику в Интернете: Untersuchungen von Stufenverteilungen an der Si/SiO.-Grenzflache mit HR-SPA-LEED LEED

The Russian Union Catalog of Scientific Literature (Russian)

3

Untersuchungen ultradunner Vandium-und Palladium-Schichten auf W [110] mit LEED, AES, TDS und CPD 0 ^aИсследование сверхтонких ванадиевых и палладиевых пленок на W[110] с LEED, AES, TDS и CPD 0 ; сверхтонкая пленка Библиогр.: с. 61-64 0 ; сверхтонкая пленка


Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : K Автор(ы) : Voss E. Заглавие : Untersuchungen ultradunner Vandium-und Palladium-Schichten auf W [110] mit LEED, AES, TDS und CPD : Diss Выходные данные : Koln, 1991 Колич.характеристики :64 с: ил Примечания : ; Библиогр.: с. 61-64 Цена : Б.ц. ГРНТИ : ; 53.49.15 УДК : Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): 0 ; сверхтонкая пленка Перейти к источнику в Интернете: Untersuchungen ultradunner Vandium-und Palladium-Schichten auf W [110] mit LEED, AES, TDS und CPD LEED

The Russian Union Catalog of Scientific Literature (Russian)

4

Untersuchungen ultrad@:unner Vanadium-und Palladium-Schichten auf W [110] mit LEED, AES, TDS und CPD Исследование сверхтонких ванадиевых и палладиевых пленок на W[110] с LEED, AES, TDS и CPD Ванадиевые пленки Палладиевые пленки


G2/17064 Voss, E. Untersuchungen ultrad@:unner Vanadium-und Palladium-Schichten auf W [110] mit LEED, AES, TDS und CPD [Text] : Diss. / E.Voss. - K@:oln : [s. n.], 1991. - 64 S. : Ill. - 5.00 р. Библиогр.: с. 61-64 Перевод заглавия: Исследование сверхтонких ванадиевых и палладиевых пленок на W[110] с LEED, AES, TDS и CPDПеревод заглавия: Исследование сверхтонких ванадиевых и палладиевых пленок на W[110] с LEED, AES, TDS и CPDГРНТИ 53.49.15УДК 669.017:539.216.2(043) Рубрики: Ванадиевые пленкиПалладиевые пленки Держатели документа: ГПНТБ России Экз-ры: ХР(1) LEED

State Public Technical Library of Russia (Russian)

5

Surface characterization by LEED, RHEED, REM, STM, and holography Surface science 0 ^aАнализ поверхностей при помощи методов упругого рассеяния медленных электронов, дифракции быстрых электронов в отраженном пучке, отражательной электронной микроскопии, растровой туннельной микроскопии и голографии. Кона, Гаваи, март 1993 г. North-Holland US - Japan seminar on surface characterization by electron diffraction, reflection electron microscopy, and holography (1993; Kona, Hawaii) 0 ; анализ поверхностей 0 ; анализ поверхностей Библиогр. в конце докл.- Указ.:с.478-495 0 ; анализ поверхностей

Ichimiya, A.; Cohen, P.I.; US - Japan seminar on surface characterization by electron diffraction, reflection electron microscopy, and holography (1993; Kona, Hawaii)

Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : K Заглавие : Surface characterization by LEED, RHEED, REM, STM, and holography : Proc. of the U.S.-Japan seminar on surface characterization by electron diffraction, reflection electron microscopy, a. holography, Kona, Hawaii, 16-19 Mar. 1993 Выходные данные : Amsterdam: North-Holland, 1993 Колич.характеристики :VI, c.261-495: ил Коллективы : US - Japan seminar on surface characterization by electron diffraction, reflection electron microscopy, and holography (1993; Kona, Hawaii) Серия: Surface science, ISSN 0039-6028; Vol. 298, N 2/3 Примечания : ; Библиогр. в конце докл.- Указ.:с.478-495 Цена : Б.ц. ГРНТИ : ; 31.15.35 УДК : Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): 0 ; анализ поверхностей Перейти к источнику в Интернете: Surface characterization by LEED, RHEED, REM, STM, and holography Доп.точки доступа: Ichimiya, A.; Cohen, P.I.; US - Japan seminar on surface characterization by electron diffraction, reflection electron microscopy, and holography (1993; Kona, Hawaii) LEED

The Russian Union Catalog of Scientific Literature (Russian)

6

Prazisionsbestimmung von Oberflachenstrukturparametern mit einem neu entwickelten hochauflosenden SPA-LEED-Instrument 0 ^aПрецизионное определение параметров поверхностной структуры с помощью вновь разработанного SPA-LEED-прибора с высоким разрешением. Дис Библиогр.: с.48-50


Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : K Автор(ы) : Scheithauer U.A Заглавие : Prazisionsbestimmung von Oberflachenstrukturparametern mit einem neu entwickelten hochauflosenden SPA-LEED-Instrument : Diss Выходные данные : Hannover, 1986 Колич.характеристики :50 с Примечания : ; Библиогр.: с.48-50 Цена : Б.ц. ГРНТИ : ; 30.19.25 УДК : + Перейти к источнику в Интернете: Prazisionsbestimmung von Oberflachenstrukturparametern mit einem neu entwickelten hochauflosenden SPA-LEED-Instrument LEED

The Russian Union Catalog of Scientific Literature (Russian)

7

Prazisionsbestimmung von Oberflachenstrukturparametern mit einem neu entwickelten hochauflosenden SPA-LEED-Instrument 0 ^aПрецизионное определение параметров поверхностной структуры с помощью вновь разработанного SPA-LEED-прибора с высоким разрешением. Дис Библиогр.: с.48-50


Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : K Автор(ы) : Scheithauer U.A Заглавие : Prazisionsbestimmung von Oberflachenstrukturparametern mit einem neu entwickelten hochauflosenden SPA-LEED-Instrument : Diss Выходные данные : Hannover, 1986 Колич.характеристики :50 с Примечания : ; Библиогр.: с.48-50 Цена : Б.ц. ГРНТИ : ; 30.19.25 УДК : + Перейти к источнику в Интернете: Prazisionsbestimmung von Oberflachenstrukturparametern mit einem neu entwickelten hochauflosenden SPA-LEED-Instrument LEED

The Russian Union Catalog of Scientific Literature (Russian)

8

Naherungsverfahren in der LEED-Strukturanalyse 0 ^aПриближенные методы структурного анализа на основе дифракции медленных электронов. Дис Библиогр.: с.86-93


Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : K Автор(ы) : Bickel N Заглавие : Naherungsverfahren in der LEED-Strukturanalyse : Diss Выходные данные : Erlangen-Nurnberg, 1987 Колич.характеристики :97 с Примечания : ; Библиогр.: с.86-93 Цена : Б.ц. УДК : Перейти к источнику в Интернете: Naherungsverfahren in der LEED-Strukturanalyse LEED

The Russian Union Catalog of Scientific Literature (Russian)

9

LEED- und NEXAFS- Untersuchungen zur gezielten Herstellung molekularer Epitaxieschichten auf Halbleitersubstraten Полупроводники, Производство


G2/17430 Zimmermann, U. LEED- und NEXAFS- Untersuchungen zur gezielten Herstellung molekularer Epitaxieschichten auf Halbleitersubstraten [Text] : Diss. / U.Zimmermann. - Stuttgart : [s. n.], 1992. - 192 S. : Ill. - 10.00 р. Библиогр.:с.186-192ГРНТИ 47.09.29УДК 621.315.592.002(043) Рубрики: Полупроводники--Производство Держатели документа: ГПНТБ России Экз-ры: ХР(1) LEED

State Public Technical Library of Russia (Russian)

10

LEED observation of NO adsorption induced relaxation on single-domain Pt(001)-(5x20) surface Techn.rep.of ISSP.Ser.A. 0 ^aНаблюдение с помощью дифракции низкоэнергетичных электронов адсорбции NO, вызванной релаксацией на поверхности одиночного домена (001)-(5х20) Inst.for solid state physics, Univ.of Tokyo 0 ; дифракция; электроны 0 ; дифракция; электроны Библиогр.:с.9 0 ; дифракция; электроны

Murata, Y.

Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : K Автор(ы) : Mase K., Murata Y. Заглавие : LEED observation of NO adsorption induced relaxation on single-domain Pt(001)-(5x20) surface Выходные данные : Tokyo: Inst.for solid state physics, Univ.of Tokyo, 1990 Колич.характеристики :13 c: ил Серия: Techn.rep.of ISSP.Ser.A., ISSN 0082-4798; N 2294 Примечания : ; Библиогр.:с.9 Цена : Б.ц. ГРНТИ : ; 29.19.03 + ; 29.19.19 УДК : Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): 0 ; дифракция; электроны Перейти к источнику в Интернете: LEED observation of NO adsorption induced relaxation on single-domain Pt(001)-(5x20) surface Доп.точки доступа: Murata, Y. LEED

The Russian Union Catalog of Scientific Literature (Russian)

11

LEED fine structure Surface science rep. 0 ^aТонкая структура низкоэнергетичной дифракции электронов: источники и применение Библиогр.: с. 194-196

Jennings, P.J

Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : K Автор(ы) : Jones R.O, Jennings P.J Заглавие : LEED fine structure : origins and applications Выходные данные : Amsterdam: North-Holland, 1988 Колич.характеристики :165-196 с Серия: Surface science rep., ISSN 0167-5729; Vol. 9 N 4 Примечания : ; Библиогр.: с. 194-196 Цена : Б.ц. УДК : Перейти к источнику в Интернете: LEED fine structure Доп.точки доступа: Jennings, P.J LEED

The Russian Union Catalog of Scientific Literature (Russian)

12

LEED Practices, certification, and accreditation handbook Butterworth-Heinemann: Elsevier 23964; Охрана окружающей среды, Справочники


J2/28211 Kubba, S. LEED Practices, certification, and accreditation handbook [Text] : монография / S. Kubba. - Burlington, Ma [etc.] : Butterworth-Heinemann: Elsevier, 2010. - XXVII, 500 p. : ill. - Библиогр.: с. 477-480. Указ.: с. 481-500. - ISBN 978-1-85617-691-0 : 3100.00 р.ГРНТИ 87.01УДК 502.17(03) Рубрики: Охрана окружающей среды--Справочники Держатели документа: ГПНТБ России Экз-ры: хр(1), (1) Копия: мкф., Шифр MR-112436 LEED

State Public Technical Library of Russia (Russian)

13

Hochauflosende LEED-Untersuchungen des Wachstums einatomarer Metallschichten 0 ^aОтличающийся высокой разрешающей способностью метод дифракции медленных электронов с целью исследования роста одноатомных металлических слоев.Дис Библиогр.:с.68-71


Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : K Автор(ы) : Meyer G Заглавие : Hochauflosende LEED-Untersuchungen des Wachstums einatomarer Metallschichten : Diss Выходные данные : Hannover, 1987 Колич.характеристики :71 с Примечания : ; Библиогр.:с.68-71 Цена : Б.ц. УДК : Перейти к источнику в Интернете: Hochauflosende LEED-Untersuchungen des Wachstums einatomarer Metallschichten LEED

The Russian Union Catalog of Scientific Literature (Russian)

14

Hochauflosende LEED-Untersuchungen des Wachstums einatomarer Metallschichten 0 ^aОтличающийся высокой разрешающей способностью метод дифракции медленных электронов с целью исследования роста одноатомных металлических слоев.Дис Библиогр.:с.68-71


Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : K Автор(ы) : Meyer G Заглавие : Hochauflosende LEED-Untersuchungen des Wachstums einatomarer Metallschichten : Diss Выходные данные : Hannover, 1987 Колич.характеристики :71 с Примечания : ; Библиогр.:с.68-71 Цена : Б.ц. ГРНТИ : ; 53.03.09 УДК : Перейти к источнику в Интернете: Hochauflosende LEED-Untersuchungen des Wachstums einatomarer Metallschichten LEED

The Russian Union Catalog of Scientific Literature (Russian)

15

Determination of surface structure by LEED The IBM research symp. ser. 0 ^aОпределение структуры поверхностей с помощью LEED. Труды конференции, Yorktown Heights, шт. Нью-Йорк, 19-20 июня, 1980 Plenum Библиогр. в конце ст. Указ.: с.559-565

Marcus, P.M; Jona, F

Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : K Заглавие : Determination of surface structure by LEED : Proc. of a conf. on determination of surface structure by LEED, held June 19-20, 1980, at the Thomas J.Watson IBM research center, Yorktown Heights, New York Выходные данные : New York; London: Plenum, 1984 Колич.характеристики :11, 565 с Серия: The IBM research symp. ser. Примечания : ; Библиогр. в конце ст. Указ.: с.559-565 ISBN, Цена 0-306-41664-6: Б.ц. ГРНТИ : ; 29.19.11 УДК : Перейти к источнику в Интернете: Determination of surface structure by LEED, Перейти к источнику в Интернете:  Доп.точки доступа: Marcus, P.M; Jona, F LEED

The Russian Union Catalog of Scientific Literature (Russian)

16

Charakterisierung organischer Adsorbate auf Silbereinkristallen mit den Messmethoden LEED und STM Библиогр.:с.206-212 ; Адсорбенты. -Методы исследования, ад


Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : K Автор(ы) : Seidel C. Заглавие : Charakterisierung organischer Adsorbate auf Silbereinkristallen mit den Messmethoden LEED und STM : Diss. Выходные данные : Stuttgart, 1993 Колич.характеристики :214 S.: Ill. Примечания : ; Библиогр.:с.206-212 Цена : Б.ц. ГРНТИ : ; 61.31.57 УДК : + Предметные рубрики: Адсорбенты Перейти к источнику в Интернете: Charakterisierung organischer Adsorbate auf Silbereinkristallen mit den Messmethoden LEED und STM LEED

The Russian Union Catalog of Scientific Literature (Russian)

17

Charakterisierung organischer Adsorbate auf Silbereinkristallen mit den Messmethoden LEED und STM Адсорбенты, Методы исследования, , ад


G2/18404 Seidel, C. Charakterisierung organischer Adsorbate auf Silbereinkristallen mit den Messmethoden LEED und STM [Text] : Diss. / C.Seidel. - Stuttgart : [s. n.], 1993. - 214 S. : Ill. - 100 р. Библиогр.:с.206-212ГРНТИ 61.31.57УДК 661.183.123(043)546.57-162:541.183(043) Рубрики: Адсорбенты--Методы исследования Держатели документа: ГПНТБ России Экз-ры: ХР(1) LEED

State Public Technical Library of Russia (Russian)