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1

Viabilidad de películas delgadas de (Pb, Ca) TiO3 depositadas sobre Pt/TiO2/SiO2/Si(100) en aplicaciones de conmutación

Jiménez, R.; Calzada Coco, María Lourdes; Alemany, C.; Ramos, P.; Mendiola, J.
1999-10-01

Digital.CSIC (Spain)

2

Preparación de películas delgadas del sistema Ti-Al-O mediante rf-sputtering

Montes de Oca, J.A.; Ceballos-Alvarez, J.; Galaviz-Pérez, J.; Manaud, J.-P.; Lahaye, M.; Muñoz-Saldaña, J.
2010-04-01

Resumen en español En el presente trabajo se sintetizaron películas delgadas del sistema Ti-Al-O mediante la técnica rf-sputtering sobre sustratos de vidrio y silicio (Si), usando blancos de compuestos intermetálicos de TiAl y Ti3Al en una cámara con atmósfera de Ar-O2. Las películas de Ti-Al-O fueron obtenidas variando parámetros experimentales, tales como el porcentaje de oxígeno alimentado a la cámara de reacción, la densidad de potencia del plasma y la temperatura del sustrato (mas) . Las películas depositadas sobre sustratos de vidrio fueron utilizadas para evaluar las propiedades ópticas, mientras que las películas crecidas sobre sustratos de Si fueron empleadas para determinar las propiedades mecánicas y morfológicas. La estructura cristalina, morfología, composición química y propiedades ópticas de las películas fueron evaluadas mediante difracción de rayos X (DRX), microscopía electrónica de barrido de alta resolución (MEB-AR), espectroscopia de electrones Auger (EEA) y espectroscopia UV visible (UV-VIS). El espesor de las películas fue evaluado usando un perfilómetro mecánico. La rugosidad y las propiedades mecánicas, tales como dureza y módulo de elasticidad reducido, fueron analizadas mediante microscopía de fuerza atómica (MFA) y nanoindentación, respectivamente. Resumen en inglés In the present work Ti-Al-O thin films were synthesized by rf-sputtering technique on glass and silicon (Si) substrates using TiAl and Ti3Al targets in a sputtering chamber with an Ar-O2 atmosphere. Ti-Al-O thin films were obtained varying experimental parameters such as oxygen percent fed to the reaction chamber, plasma power density and substrate temperature. The films deposited on glass substrates were used to evaluate their optical properties, while those deposited on (mas) Si substrates were used to evaluate mechanical and morphological properties. The crystalline structure, morphology, chemical composition and optical properties of the films were evaluated by X-ray diffraction (XRD), high-resolution scanning electron microscopy (HR-SEM), Auger Electron Spectroscopy (AES) and Visible UV Spectroscopy (UV-VIS). Films thicknesses were measured using a profiler. The roughness and mechanical properties such as hardness and Young's modulus were analyzed by atomic force microscopy (AFM) and nanoindentation technique, respectively.

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3

Caracterización eléctrica de películas delgadas de Al2O3 depositadas sobre GaAs por la técnica de rocío pirolítico/ Electrical characterization of thin films of Al2O3 deposited on GaAs by spray pyrolysis technique

Chávez-Ramírez, J.; Aguilar-Frutis, M.; Burillo, G.; López-Romero, S.; Alvarez-Fregoso, O.; Falcony, C.; Flores-Morales, C.
2008-03-01

Resumen en español Se estudiaron las características eléctricas de películas delgadas de óxido de aluminio preparadas por la técnica de rocío pirolítico ultrasónico. Las películas delgadas se depositaron a partir de una solución de acetilacetonato de aluminio en N,N-dimetilformamida sobre substratos monocristalinos de GaAs (100) tipo-p. La temperatura de depósito fue de 300 a 600 ºC. Las propiedades eléctricas de las películas en función de la temperatura de substrato se dete (mas) rminaron por medidas de capacitancia y corriente contra voltaje mediante la incorporación de las películas en estructuras tipo MOS (metal-óxido-semiconductor). La densidad de estados de interfaz resultó del orden de 10(12) 1/eV-cm² y el dispositivo MOS soportó campos eléctricos mayores a 5MV/cm, sin mostrar rompimiento dieléctrico. El índice de refracción se determinó por elipsometría a 633nm, con un valor máximo del orden de 1.64. Resumen en inglés Electrical characteristics of thin films of aluminum oxide prepared by spray pyrolysis were studied. The films were prepared from solution onto single crystal GaAs (100) substrates at temperatures from 300°C to 600°C. The electrical characteristics of these films as a function of the substrate temperature were determined from the capacitance and current versus voltage measurements of metal-oxide-semiconductor (MOS) structures incorporating them. The interface states den (mas) sity was of the order of 10(12) 1/eV-cm² and the films can stand electric fields higher than 5MV/cm, without observing destructive dielectric breakdown. The refractive index at 633 nm near to 1.64 was measured by ellipsometry.

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Influencia del bombardeo iónico sobre películas delgadas de nitruro de boro cúbico depositadas por pulverización catódica r. f./ Influence of ionic bombardment on cubic boron nitride (c-BN) thin film deposition by r. f. magnetron sputtering

Bejarano Gaitán, Gilberto; Roque Caicedo, José Manuel; Prieto Pulido, Pedro; Zambrano, Gustavo; Baca Miranda, Eval
2006-07-01

Resumen en español Películas delgadas de nitruro de boro cúbico (c-BN) fueron depositadas mediante la técnica del d. c. y r. f. (13,56 MHz) magnetron sputtering multi-blanco, utilizando un blanco de nitruro de boro hexagonal (h-BN) con una pureza de 99,9% y una mezcla de gas Ar (95%) y N2 (5%). Los recubrimientos se depositaron a una temperaturas de 300 y 900 °C y a densidades de potencia de 7 y 24 W/cm². Con el propósito de obtener la mayor fracción posible de fase cúbica del BN, s (mas) e aplicó un Bias d. c. entre 0-250 V, así como también un bias r. f. entre 0-350 V durante la fase de crecimiento del recubrimiento. La microestrutura, composición, morfología, topografía y espesor de las películas se caracterizaron mediante espectroscopia en el infrarrojo por transformadas de Fourier (FTIR) y microscopía de fuerza atómica (AFM). Las películas de c-BN depositadas a 300 °C, a una presión de 4 x 10-³ mbar y un bias r. f. del substrato de -150 V durante el periodo de crecimiento por un tiempo 35 min, presentaron la mayor fracción de fase cúbica de aproximadamente 85%. Resumen en inglés Thin films of cubic Boron Nitride (c-BN) were deposited by d. c. and r. f. (13,56 MHz) multi-target magnetron sputtering from high-purity (99,99 %) hexagonal boron nitride (h-BN) target, in an Ar (95%)-N2 (5%) gas mixture. Films were deposited at 300 and 900 ºC, with power density of 7 and 24 W/cm². In order to obtain the highest fraction of the c-BN phase, a d. c. substrate bias voltage between 0 and -250 V, as well as an r. f. substrate bias voltage between 0 V and 35 (mas) 0 V were applied during the film growth. Characterization of the microstructure, composition, morphology, topography and thickness of the films was carried out by Fourier Transformed Infrared Spectroscopy (FTIR), Scanning Electron Microscopy (SEM) and Atom Force Microscopy (AFM). It was found that BN films deposited at 300 ºC, at a pressure of 4 x 10-³ mbar and under -150 V of r. f. bias, applied for 35 min, presented the highest c-BN fraction, close to 85%.

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Estudio del comportamiento de películas delgadas de Ni y óxido de Ni obtenidas por espurreo catódico frente a un medio amargo

Magaña-Zavala, C. R; Rodríguez-Gómez, F. J; Acosta, D. R; Genescá, J; Ávila-Godoy, R
2006-05-01

Resumen en español En este trabajo se presenta el estudio del comportamiento de películas delgadas de níquel y un óxido superior de níquel obtenidas por espurreo catódico sobre acero AISI 1018 (UNS G 10180), con el propósito de disminuir la velocidad de corrosión del acero al carbón cuando se expone a un medio amargo (presencia de ácido sulfhídrico y cloruros) y obtener una protección anticorrosiva eficaz. La caracterización de las superficies se realizó a través de técnicas electroquímicas[l] (curvas de polarización y espectroscopia de impedancia electroquímica). Resumen en inglés The aim of this work is to study the behavior of nickel and nickel oxide thin films obtained by cathodic sputtering on steel AISI 1018 (UNS G 10180), with the purpose of diminishing the corrosion rate of low carbon steel, when it is exposed to a sour medium, and to obtain an efficient anticorrosive protection. The characterization of the surfaces was carried out by electrochemical techniques, such polarization curves and electrochemical impedance spectroscopy.

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6

Propiedades ópticas de películas delgadas de CdSe obtenidas por rocío pirolítico

Pérez González, A.M.; Santiago Tepantlán, C.; Renero Carrillo, F.
2006-06-01

Resumen en español Presentamos las propiedades ópticas de películas delgadas de selenuro de cadmio (CdSe) obtenidas por el método de rocío pirolítico, a partir de la mezcla de selenosulfato de sodio (Na2SSeO3) y cloruro de admio (CdCl2) en solución acuosa. Procesando los espectros de transmitancia de las películas de CdSe se obtienen los valores de índice de refracción, coeficiente de absorción y ancho de banda óptico. Los valores obtenidos son comparados con los valores obtenidos por los autores usando el metodo de evaporación térmica y con resultados reportados en la literatura. Resumen en inglés In this paper the optical properties of CdSe thin films obtained by spray pyrolisis are presented. The films are prepared by Sodium Selenosulphate (Na2SSeO3) and Cadmium Chloride (CdCl2) mixing in aqueous environment. Optical parameters of the films (refractive index, absorption coefficient and optical bangap) were calculated from transmittance spectra. The obtained values of the optical bangap are compared with the result obtained by other deposition methods.

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Caracterización raman y edx de películas delgadas de CN X crecidas por ablación láser

Gallego, J.L; Franco, L.M; Riascos, H; Vargas-Hernández, C; Ospina, R
2009-12-01

Resumen en español En el presente estudio se depositaron películas delgadas amorfas de nitruro de carbono a-CNx utilizando un blanco de grafito pirolítico con una pureza de 5N, sobre substratos de silicio (100) en una atmosfera de gas de nitrógeno, usando la técnica de depósito por láser pulsado. Las películas de a-CNx se crecieron a diferentes temperaturas del substrato y diferentes presiones del gas nitrógeno; se utilizó un láser Nd:YAG con una fluencia de 10 J/cm². Las pelícu (mas) las fueron caracterizadas por espectroscopia μ-Raman y con microanálisis por energía dispersiva de rayos X (ED X). Los espectros Raman muestran los picos característicos de carbono amorfo D (1354 cm-1) y el pico G (1555 cm-1), que corresponden a enlaces sp². Las intensidades de los picos característicos (I D/I G) en los espectros Raman indican que con el incremento de la temperatura del substrato y de la presión del gas de nitrógeno la relación entre las intensidades de los picos D y G (I D/I G) aumenta. El análisis EDX confirma la presencia de los elementos depositados C, N. La pluma del plasma producido por el láser fue caracterizada mediante espectroscopia de emisión óptica. En los espectros de emisión se identificaron especies atómicas (carbono y nitrógeno) y moleculares de CN. Resumen en inglés In the present study a-CNx amorphous carbon nitride thin films were deposited using a pyrolytic graphite target with a purity of 5N on silicon (100) substrate in a nitrogen gas atmosphere using pulsed laser deposition technique. We used a Nd:YAG laser with laser fluence of 10 J/cm². The films were characterized by μ-Raman spectroscopy and Energy Dispersive X-ray ED X microanalysis. The Raman spectra showed the characteristic peaks of amorphous carbon D (1354 cm-1) a (mas) nd G (1555 cm-1), corresponding to sp² bonding. The peak intensity ratio (I D/I G) from Raman spectra increases as substrate temperature and nitrogen gas pressure increase. The (EDX) analysis confirmed the presence of C, N elements. The plume plasma produced by laser was characterized by optical emission spectroscopy. From the emission spectra, carbon and nitrogen atomic species and CN molecule were indentified.

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8

Calentador de sustratos compacto y de bajo costo para tratamiento térmico in situ de películas delgadas depositadas por rf-sputtering

Márquez-Herrera, A.; Hernández-Rodríguez, E.; Cruz-Jáuregui, M.P.; Zapata-Torres, M.; Zapata-Navarro, A.
2010-02-01

Resumen en español En este trabajo se presenta el diseño y construcción de un calentador de sustratos de bajo costo, el cual es capaz de operar en sistemas de alto vacío. Su utilización se centra en proporcionar tratamiento térmico in-situ durante el crecimiento de películas delgadas bajo condiciones de presión controlada y atmósfera corrosiva. El calentador fue construido principalmente de acero inoxidable, cerámica y una resistencia comercial de khantal-A1. El cuerpo del horno es (mas) enfriado usando un sistema de aletas y líquido refrigerante, el cual se encuentra completamente aislado de la cámara de depósito. El diseño del calentador también incorpora un sistema de rotación que permite que el sustrato gire durante el proceso de crecimiento proporcionando uniformidad a la película. La temperatura del sustrato es monitoreada mediante un termopar tipo "K" que retroalimenta a un controlador de temperatura, el cual modula una fuente de poder variable que suministra el voltaje a la resistencia. Con el propósito de evaluar la funcionalidad del sistema de calentamiento, éste se montó en un equipo de rf-sputtering y se crecieron películas delgadas de BaTiO3 con distintas temperaturas de sustrato en una geometría off-axis. El sistema de tratamientos térmicos in-situ es capaz de proveer una temperatura uniforme al sustrato así como de operar por largos periodos de tiempos. Resumen en inglés In this work we present the design, construction and the evaluation of a low cost substrate heater for working at high vacuum. Its use concentrates in providing in-situ annealing during the growth of thin films under conditions of controlled pressure and corrosive atmosphere. The heater was constructed mainly of stainless steel, ceramic and a resistance of khantal-Al. The body of the heater is cooled using a system of fins and cooling liquid which is isolated completely o (mas) f the vacuum chamber. The design of the heater also incorporates a rotation system that allows that the substrate turns during the process of growth providing uniformity to the film. Temperature of the substrate is recorded by a type "K" thermocouple which feeds back a temperature controller that provides a modulated voltage to the heating resistance. In order to evaluate the functionality of the heating system, this was mounted in a rf-sputtering equipment and thin films of BaTiO3 were grown under different substrate temperatures in an off-axis geometry. The heating system is able to provide an uniform temperature to the substrate as well as to operate by long periods of times.

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Estudio mediante difracción de rayos X de las tensiones residuales producidas durante el depósito de películas delgadas de TiN sobre sustratos metálicos/ Study by X-ray diffraction of the residual stress produced during deposition of TiN thin films on metallic substrates

Monsalve, Mónica; López, Esperanza; Meza, Juan; Vargas, Fabio
2010-08-01

Resumen en español En este trabajo se analizó la influencia que tiene el espesor de la película y el tipo de sustrato en el nivel y tipo de esfuerzos residuales generados en recubrimientos de TiN obtenidos por dos técnicas de deposición física en fase vapor: pulverización catódica con magnetrón e implantación iónica. Los sustratos utilizados fueron un acero inoxidable AISI 304 y un acero de herramientas AISI M2. Las tensiones residuales, las fases presentes y la orientación crist (mas) alográfica de las películas depositadas fueron obtenidas mediante análisis de difracción de rayos X por incidencia rasante. Se encontró que los esfuerzos residuales fueron mayores en las películas depositadas por la técnica de pulverización catódica con magnetrón que en las depositadas por la técnica de implantación iónica. En ambos casos estos esfuerzos son de compresión y disminuyen en la medida que aumenta el espesor de la película. Esto se debe a la forma como se entrega la energía, la capa en crecimiento y el momentum de las partículas ionizadas, lo que influye directamente en la microestructura y aumento o disminución de los esfuerzos residuales. En cuanto al tipo de sustrato se obtuvieron esfuerzos mayores en las películas depositadas sobre el acero AISI 304 que en las depositadas sobre el acero AISI M2, lo cual se debe posiblemente a que este último acero tiene un menor coeficiente de expansión térmica. Resumen en inglés The influence of film thickness and the substrate type on the level and type of residual stresses generated on TiN coatings are analyzed. Two different physical vapor deposition (PVD) techniques: Magnetron Sputtering and Ion Plating were applied. Two materials were used as substrate: stainless steel AISI 304 and AISI M2 tool steel. The study of the residual stresses, the present phases, the crystalline structure and the crystallographic texture of the deposited films was (mas) performed by X-ray diffraction analysis using the grazing method with a low incidence angle. The results show that the residuals stresses produced by both deposition techniques were of compression and that their level decreased by increasing the film thickness. Moreover, the residual stresses were higher in those coatings deposited by Magnetron sputtering than coatings produced by Ion Platting. The residuals stresses in the films deposited on the AISI 304 steel were greater than those produced in AISI M2 steel. This is due to the delivery energy mechanism to the layer growth and momentum of the ionized particles, which directly influence the microstructure and increase or decrease residual stresses. Regarding the substrate, residuals stresses were greater on the films produced on AISI 304 steel, than those deposited on the AISI M2 steel, which is possibly due to the lower coefficient of thermal expansion of M2 steel.

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CdTe thin films electrodeposition on gold electrode in EDTA-Ammonia aqueous solutions/ Electrodeposición de películas delgadas de CdTe sobre electrodo de oro en soluciones acuosas de EDTA-Amonio

Montilla, Milagro; Alarcón, Domingo; Ortiz, Reynaldo
2007-12-01

Resumen en español En este trabajo se muestran los resultados obtenidos del estudio del crecimiento electroquímico y caracterización de películas delgadas del semiconductor CdTe. El crecimiento se realizó mediante la electrodeposición catódica a potencial constante a partir de soluciones acuosas alcalinas de las especies precursoras TeO3(2-) y Cd2+ y EDTA como agente acomplejante para el Cd2+. La composición de las películas se determinó por espectroscopía de emisión atómica con (mas) plasma inductivamente acoplado (AES-ICP) y espectroscopia de dispersión de rayos X (EDX). Estudios realizados por espectroscopía de reflectancia UV-visible y fotovoltametría, permitieron determinar que las películas CdTe electrodepositadas presentan un comportamiento de semiconductor tipo p y un valor de brecha energética de 1,64 eV. Resumen en inglés In the present work, we report the electrochemical growth and characterization of CdTe semiconductor thin films in alkaline solution. The electrodeposition was performed cathodically applying a constant potential. Tellurium (IV) and Cd2+ aqueous alkaline solutions were employed as precursor of CdTe. EDTA was used as complexing agent for Cd2+ ions. The thin film composition was determined by atomic emission spectroscopy with inductive coupling plasm (AES-ICP) and Energy Di (mas) spersive X-ray Analysis). UV-visible spectroscopy allowed determining the optical band gap energy, which was 1.64 eV. The photovoltammetric experiment shows up that the synthesized CdTe thin film was p-type semiconductor.

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Electrodeposición de Cobre-Latón sobre sustratos de Zamak utilizando las técnicas DC, PDC y PRC

Aperador Chaparro, William; Laverde Cataño, Dionisio; Vera López, Enrique
2006-01-01

Resumen en español Este trabajo muestra la implementación de las técnicas de corriente pulsante inversa, corriente pulsante directa y corriente directa para electrodepositar películas delgadas de cobre-latón en forma de bicapa sobre sustratos de Zamak. El análisis morfológico se realizó utilizando microscopía de fuerza atómica (AFM) permitiendo identificar que las películas obtenidas con corriente pulsante inversa presentan un tamaño de grano más fino que las películas obtenida (mas) s mediante las otras dos técnicas. Para evaluar la resistencia a la corrosión de las películas se utilizó la técnica EIS y curvas de polarización. Se observó de igual manera que la deposición utilizando la técnica de corriente pulsante inversa genera depósitos que incrementa la resistencia a la corrosión de las películas obtenidas. Resumen en inglés This research shows the implementation of the techniques of inverse-pulsing current, direct-pulsing current and direct current for the electrodeposition of copper brass thin films as double-layer on Zamak substrates. The morphological analysis has been carry out by using atomic force microscopy (AFM). This technique allowed the detection of finer grain size on the films obtained by inverse-pulsing in comparison with the films obtained via the other two techniques. In orde (mas) r to evaluate the corrosion resistance of the thin films, EIS technique and polarization curves were employed. It was also observed that deposition by using the inverse-pulsing current technique generated deposits of minor porosity and increased the corrosion resistance of the obtained films.

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Stress and nanostructure control for the development of magnetoelectro-mechanical micro-devices

Fernández Martínez, Ivan

Tesis leída el 28 de noviembre de 2008 en el Departamento de Física Aplicada de la Facultad de Ciencias de la Universidad Autónoma de Madrid. | En esta tesis, es investigan las técnicas de producción y propiedades de películas delgadas amorfas de Fe-B para su uso en actuadores micro-mecánicos agneto...

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Obtención y evaluación de películas de materiales con aplicaciones electrónicas mediante pruebas aceleradas de corrosión/ Obtaining and evaluation of material films with electronic applications by means of accelerated tests of corrosion

Marín, Diana Milena; Gómez Botero, Maryory Astrid; Mira, Rodolfo; Echeverría, Félix
2008-06-01

Resumen en español El objetivo de la investigación fue evaluar el comportamiento frente a la corrosión de diferentes materiales utilizados en la electrónica. Se depositaron películas delgadas de Al, Cu, Ni y una bicapa Cu/Au sobre sustratos de mica, mediante evaporación física en fase vapor. Los recubrimientos se sometieron a ensayos acelerados de corrosión en cámara climática, bajo atmósferas de NOx y SO2. Las películas se evaluaron conectadas en circuito y de forma individual. (mas) El tiempo total de exposición fue de 9 semanas. Se realizaron medidas de rugosidad y resistencia de los recubrimientos a las diferentes semanas de exposición y se estudiaron por microscopía óptica, STM, SEM y EDS. La bicapa Cu/Au presentó mayor estabilidad respecto al Cu en las pruebas aceleradas de corrosión. Mediante los análisis EDS se encontró la presencia de elementos precursores del proceso corrosivo. Resumen en inglés The air of this study was to evaluate the corrosion behaviour of different materials employed in electronics. Thin films of Al, Cu, Ni an bilayer of Cu/Au were deposited by PVD on mica substrates. The coatings were exposed at accelerated corrosion test in chamber, using atmospheres containing NOx and SO2. The films were tested both connected and as individual parts. The total exposure time was weeks. Roughness and electrical resistance of the coatings across the exposure (mas) time and they were studied by optical microscopy, STM, SEM and EDS. The bilayer Cu/AU shows more stability compared with Cu according to the accelerated corrosion test. EDS analysis identified the presence of the corrosive aggressive species.

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Efecto de la temperatura en la resonancia ferromagnética del Ni50Fe50/Si(001)

Díaz de Sihues, M; Silva, P.J.; Fermín, J.R; Azevedo C, A; Rezende, S.M; De Aguiar, F.M
2006-05-01

Resumen en español Reportamos el efecto de la temperatura en el espectro de la resonancia ferromagnética (FMR) en películas de Ni50Fe50 depositadas sobre el substrato de Si(001). El campo de FMR y el ancho de línea fueron estudiados como una función del espesor de la película ferromagnética, t, y de la temperatura, T. Los datos son interpretados con un modelo fenomenológico que incluye campos de anisotropía uniaxial en el plano y fuera del plano. El principal efecto de la temperatur (mas) a es inducir una anisotropía de superficie que produce un eje uniaxial fuera del plano. El campo de resonancia presenta tres regímenes de temperatura diferentes, con dos temperaturas de transición. El efecto de la temperatura sobre los espectros de FMR se explica en términos de las variaciones de la anisotropía de superficie con la temperatura. Una nueva transición de orden ferromagnético se observa a baja temperatura en la películas mas delgadas. Resumen en inglés We report the effect of temperature on the ferromagnetic resonance (FMR) spectra of Ni50Fe50 thin films sputtered on Si (001) wafers. The FMR field and linewidth were studied as a function of the ferromagnetic layer thickness, t, and the temperature, T. The data are interpreted in the framework of a phenomenological model that includes in- and out-of- the plane uniaxial anisotropy fields. The main effect of temperature on the magnetic properties of these films is to induc (mas) e a surface anisotropy with an out-of- the plane uniaxial axis. The resonance field as a function of temperature, shows three different regimes, with two transition temperatures. Also, the temperature effects on the FMR spectra of these films are connected with the temperature variations of the surface anisotropy. A new magnetic transition is observed in thinner films at low temperatures.

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Mejoramiento de la resistencia a la corrosión del acero AISI 4140 utilizando multicapas de titanio/nitruro de titanio/ Corrosion resistance improvement of steel AISI 4140 by using a titanium/titanium nitride multilayer coating syste

Correa, Faber; Caicedo, Julio César; Aperador, William; Rincón, Carlos Alberto; Bejarano, Gilberto
2008-12-01

Resumen en español El acero 4140 se utiliza ampliamente en la fabricación de partes de máquinas con durezas entre 25-35 Rockwell C. Sin embargo, su vida útil se ve limitada por su baja resistencia al desgaste y a la corrosión. Con el fin de mejorar su comportamiento frente a la corrosión se depositaron multicapas de Titanio/Nitruro de Titanio (Ti/TiN) sobre substratos de acero 4140 mediante un sistema multi-blanco d.c. magnetrón sputtering a partir de un blanco de Ti de alta pureza (9 (mas) 9,99%) en una atmósfera deAR/N2. Con el objeto de estudiar el efecto del número de capas sobre la velocidad de corrosión de las películas depositadas, se crecieron multicapas con 1, 5, 10, 15, y 20 bicapas de [Ti /TiN], manteniendo un espesor total constante de 3 μm en todas ellas. Las fases existentes y composición química de los recubrimientos fueron analizados mediante espectroscopía de difracción de rayos X (XRD) y espectroscopía de energía dispersiva de rayos X (EDX) respectivamente. Las muestras de acero sin y con recubrimiento se caracterizaron además por Espectroscopía de Impedancia Electroquímica (EIS) y curvas de polarización Tafel. Se encontró que la velocidad de corrosión tuvo una disminución alrededor del 87% en el acero recubierto con 20 bicapas de Ti/TiN en comparación al acero sin recubrir y del 25% respecto a la muestra recubierta con 1 bicapa, lo cual evidencia el efecto positivo del incremento del período en las películas delgadas basadas en multicapas de Ti/TiN Resumen en inglés Steel 4140 is widely used for fabrication of machines components with hardness between 25 and 35 Rockwell C (HRC). However, life time of this steel is limited by its low wear and corrosion resistance. In order to enhance its corrosion behavior, multilayer of Ti/TiN were deposited onto 4140 steel samples by d.c. reactive magnetron sputtering using a high purity titanium target (99.9) in anAR/N2 atmosphere. With the purpose to study the influence of the layer number on the (mas) rate of corrosion of deposited films, multilayer of [Ti /TiN] were growth with 1, 5, 10, 15 and 20 bilayers and a 3 μm constant thickness for all samples. The grown phases and chemical composition were analyzed by x-ray diffraction spectroscopy (XRD), and energy dispersive X-ray spectroscopy (EDX) respectively. Additionally, the uncoated and coated steel samples were characterized using electrochemical impedance spectroscopy (EIS) and Tafel’s polarisation curves. A corrosion rate reduction of approximately 87% was found for the steel sample coated with 20 bilayers of Ti/TiN compared with the uncoated, and of 25% related to the sample coated with 1 bilayer. This evidences the positive effect of the period increase of the multilayered Ti/TiN thin films on their corrosion resistance.

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Estudio de la conductividad del sistema amorfo Li2S-Sb2S3-P2S5

Nagamedianova, Z; Sánchez, E.M
2007-08-01

Resumen en español Existe un gran interes hacia los vidrios sulfuros debido a la alta conductividad inherente del ion litio en estos compuestos, dada la polarizabilidad del ion sulfuro. En el presente trabajo se presenta un estudio sistemático de la conductividad del sistema vitreo Li2S-Sb2S3-P2S5 y se discute su posible aplicación en baterías de estado sólido. La síntesis de vidrios fue realizada por el método de fusión-templado y su amorficidad fue confirmada mediante el uso de dif (mas) racción de rayos X (DRX), microscopía y calorimetría diferencial de barrido (CDB). La conductividad de estos vidrios fue analizada por medio de espectroscopía de impedancia (EI). La conductividad iónica de las muestras alcanzó valores del orden de μS/cm a temperatura ambiente, que permite ubicarlos como electrolitos sólidos de litio. Además, se reportan los valores de energía de activación y factor preexponencial de acuerdo al modelo de conductividad lineal tipo Arrhenius y por otro lado se ajustaron los datos de impedancia con un modelo de circuito equivalente del tipo R(RQ)(RQ). Los resultados son comparables a otros tiovidrios de litio basados en P2S5, SiS2, GeS2, As2S3 etc. Aunque las conductividades iónicas obtenidas no son suficientes para aplicaciones en baterías tradicionales, estos nuevos vidrios podrían ser utilizados en microbaterias de estado sólido de litio en forma de las películas delgadas. Resumen en inglés There is a great interest in sulfide glasses because of their high lithium ion conductivity. This work presents the study of new glasses based on Li2S-Sb2S3-P2S5 system which are ionic lithium conductors with possible application in solid state batteries of lithium. The synthesis of glasses has been performed by classical quenching technique and glassy nature was confirmed by various techniques as X-Ray Diffraction (XRD), Microscopy and Differential Scanning Calorimetry ( (mas) DSC). Conductivities have been determined by Impedance Spectroscopy (IS). Some compositions of high lithium content have presented ionic conductivities close to 10-6 S/cm at room temperature that permits to consider them as solid lithium conductors. In addition, the values of activation energy, Ea, pre-exponential factors, gσ0, and circuit equivalent model R(RQ)(RQ) were reported. The results are comparable to those ones of other lithium glasses based on P2S5, SiS2, GeS2, As2S3 etc. Despite ionic conductivities are insufficient for application on common batteries, those new glasses based on Li2S-Sb2S3 and prepared as thin films could be used on solid state microbatteries of lithium.

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A dispersion model of an open microstrip-line using the LSM propagation mode/ Modelo de dispersión de una microcinta abierta utilizando el modo de propagación LSM

Galo Durango, Augusto
2004-12-01

Resumen en español Se presenta en este trabajo el estudio de uno de los modos de propagación, en el rango de frecuencias de microondas, de una línea de transmisión de dos conductores planos conocida en la literatura pertinente como microcinta abierta o "microstrip-line". Abierta en el sentido en que uno de los dos conductores está expuesto al vacío. Así, este dispositivo está conformado, teniendo en cuenta la tecnología de películas delgadas o "thin films", de dos planos conductore (mas) s paralelos y de dos dieléctricos y el cual ha evolucionado de la línea de transmisión clásica para frecuencias bajas. El conductor superior es de dimensiones mucho menores con respecto al conductor inferior. En el campo de la Teoría de Variable Compleja es posible estudiar el modo de propagación LSM en un plano transformado P, el cual se obtuvo del plano físico (semiplano Z) de la microcinta mediante dos transformaciones sucesivas Schwarz-Christoffel. También es posible encontrar en el mismo la constante de fase Г, los campos Elйctrico y Magnйtico, y, finalmente, las ecuaciones para el modo LSM. Una vez que se obtenga dicha informaciуn se realizarбn grбficos para la constante dielйctrica efectiva Îeff (w), de la Impedancia Zc, de la constante dieléctrica de los medios y de la relación de perfil w/h del dispositivo. Finalmente, se efectuarán comparaciones con los resultados presentados por otros autores. Resumen en inglés The study of one of the propagation modes, in the range of the microwave frequencies, of a transmission line conformed by two conductor planes, which is well known in the pertinent literature as an open or a "microstrip-line" is shown in this work. Open in the sense of that one of the conductors is exposed to the vacuum. That is, this device is basically conformed, if we have in account the thin film technology, of two conductive parallel planes and two dielectrics ones a (mas) nd this has been developed of the classical transmission line for low frequencies. The upper conductor plane has finite transversal dimensions with respect to the lower one. In the field of the Complex Variable Theory it is possible to study the LSM propagation mode in a P transformed plane, which was obtained from the physical plane (Z semiplane) of the microstrip-line through two consecutive Schwarz-Christoffel transformations. It is also possible to find the phase constant Г, the Electric and Magnetic fields and finally the equations for the LSM mode. Once this information is obtained, graphics will be made for the effective dielectric constant of the means as a function of the angular frequency and the W/h profile relation of the device. Finally, comparisons will be made with the results offered by others authors.

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18

XPS characterization of porous and sealed anodic films on aluminum alloys

Feliu Jr., S.; Bartolomé, Mª. J.; González, J. A.; Feliu, S.
2007-03-16

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20

Upconversion emission in Er(3+)-doped lead niobium germanate thin-film glasses produced by pulsed laser deposition

Lahoz, F.; Haro-González, P.; Rivera-López, F.; González-Pérez, S.; Martín, I. R.; Capuj, N. E.; Afonso, Carmen N.

5 pages, 6 figures.-- PACS nrs.: 78.20.-e, 78.47.Cd, 78.55.Qr, 78.66.Jg.-- Printed version published on Nov 2008. | Thin films of Er(3+)-doped lead–niobium germanate have been produced by pulsed laser deposition from Er(3+)-doped 25PbO2–25Nb2O5–50GeO2 (mol%) transparent glasses with an Er content in...

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21

Upconversion emission in Er(3+)-doped lead niobium germanate thin-film glasses produced by pulsed laser deposition

Lahoz, F.; Haro-González, P.; Rivera-López, F.; González-Pérez, S.; Martín, I. R.; Capuj, N. E.; Afonso, Carmen N.; Gonzalo de los Reyes, José; Fernández Rodríguez, Joaquín; Balda, Rolindes
2008-06-13

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22

Type of plasmas and microstructures of TiO2 thin films prepared by plasma enhanced chemical vapor deposition

Borrás Martos, Ana Isabel; Cotrino, José; González-Elipe, Agustín R.
2007-10-22

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23

Transmission electron microscopy study on silicon nitride/stainless steel bonded interfaces

Poza, P.; Miranzo, Pilar; Osendi, María Isabel

3 pages, 3 figures.-- Printed version published Nov 28, 2008. | The reaction zone of a diffusion bonded Si3N4/stainlees steel (ss) interface formed at 1100°C was analyzed by transmission electron microscopy and X-ray diffraction (XRD). Besides the formation of various iron silicides, iron nitride an...

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25

Thermal stability of copper nitride thin films: The role of nitrogen migration

González-Arrabal, Raquel; Gordillo, Nuria; Martín-González, Marisol S.; Ruiz-Bustos, R.; Agulló-López, F.
2010-05-20

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27
28

The characterisation of ferroelectric thin films using nanoindentation

Algueró Giménez, Miguel; Calzada Coco, María Lourdes; Pardo Mata, Lorena; Bushby, A. J.; Cheng, B. L.; Guiu, F.; Reece, M. J.
1999-10-01

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29

Temperature and thickness dependence at the onset of perpendicular magnetic anisotropy in FePd thin films sputtered on MgO(001)

Clavero, C.; García-Martín, José Miguel; Costa Krämer, José Luis; Armelles Reig, Gaspar; Cebollada, Alfonso; Huttel, Y.; Lukaszew, R. A.; Kellock, A. J.
2006-05-04

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30

Síntesis y caracterización electroquímica de películas de SiO2 dopadas con Cerio por la técnica de sol-gel en medio básico/ Synthesis by Sol-gel Route and Characterization of Ceria Doped Silica Coatings on Commercial Carbon Steel

Domínguez-Crespo, M.A.; Ramírez-Meneses, E.; Torres-Huerta, A. M.; García-Murillo, A.; Arce-Estrada, E. M.; Castillo-Hernández, O. G.
2009-01-01

Resumen en español La síntesis de recubrimientos con base sílice, en el pretratamiento de diversos materiales antes de un acabado estético o final, se ha incrementado de manera importante en los últimos años. Las ventajas de este tipo de películas son su baja o nula toxicidad, incremento en las propiedades de adherencia y la generación de una barrera de protección capaz de retardar de manera considerable el proceso de corrosión. Una de las técnicas más utilizadas para la síntesi (mas) s de estos recubrimientos es la técnica sol-gel, mediante la cual se pueden sintetizar películas con características específicas en estructura, textura, composición química y espesor en una amplia variedad de substratos. En este trabajo se presenta el comportamiento electroquímico de recubrimientos de SiO2 dopados con 0.4 % en peso de cerio sobre acero al carbono comercial (1012), las cuales se sintetizaron por la técnica de sol-gel a partir de TEOS (Si(OC2H5)4) en medio alcalino. Las muestras fueron tratadas térmicamente a tres temperaturas: 623, 723 y 873 K durante 3 h, con el fin de evaluar la influencia en las propiedades de protección y adherencia. La evaluación electroquímica de las películas se realizó mediante las técnicas de Tafel y Espectroscopia de Impedancia Electroquímica, mientras que la evaluación estructural y morfológica se realizó mediante Difracción de rayos-X (DRX), Infrarrojo y Microscopía Electrónica de Barrido (MEB). Los resultados obtenidos indican que este tipo de recubrimientos actúa como una barrera de protección contra la corrosión en medios agresivos (NaCl 3.5% en peso) incrementando el tiempo de vida media de esta clase de substratos. Resumen en inglés The use of silane formulations for the pre-treatment of metallic substrates prior to painting or as topcoat has been increasing during the recent years. The proposed formulations are very attractive because they present environmental friendliness, enhance adhesion properties and provide a barrier layer that delays the corrosion processes. One of the most used techniques to synthesized based-SiO2 coatings is sol-gel. The preparation of sol-gel coatings with specific chemic (mas) al functions offers potential advantages over traditional methods as it offers tailoring of their structure, texture and thickness and allows the fabrication of large coatings. The present work investigates the electrochemical behaviour of commercial carbon steel coated with ceria doped SiO2 by sol-gel process in basic media. To evaluate the influence of temperature on adhesion and protective properties, the coatings were sintered at three different temperatures, 623 K, 723 K and 873 K, for 3 h. The anticorrosion behaviour, of the films has been characterized in an aggressive medium by electrochemical techniques, while structural characteristics and morphology was followed by X-Ray Diffraction, Fourier Transformed Infra-Red and Scanning Electron Microscopy techniques. The results indicated that the thin films act as a protective barrier against exposure to the corrosive medium (3.5 wt-% NaCl solution) and increase the lifetime of the susbtrate.

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31

Synthesis, characterization, and photoactivity of InTaO4 and In0.9Ni0.1TaO4 thin films prepared by electron evaporation

Rico, V. J.; Frutos, F.; Yubero Valencia, Francisco; Espinós Manzorro, Juan Pedro; González-Elipe, Agustín R.
2009-12-23

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33

Surface Plasmon Resonance Effects in the Magneto-Optical Activity of Ag–Co–Ag Trilayers

Ferreiro Vila, E.; Bendaña, X.M.; González-Díaz, Juan B.; García-Martín, A.; García-Martín, J.M.; Cebollada, Alfonso

A complete magneto-optical characterization of Pt capped Ag-Co-Ag sputtered trilayers with varying Co thickness is presented. Polar Kerr rotation and ellipticity exhibit a gradual increase in signal as the Co layer gets thicker, with a sharp feature around 3.75 eV due to the bulk Ag plasmon resonanc...

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34

Study of rough growth fronts of evaporated polycrystalline gold films

Munuera, C.; Aznárez, José Antonio; Rodríguez Cañas, E.; Oliva, A. I.; Aguilar, M.; Sacedón Adelantado, José Luis
2004-07-22

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35

Structure, morphology and optical properties of CuInS2 thin films prepared by modulated flux deposition

Guillén, C.; Herrero, J.; Briones Fernández-Pola, Fernando; Gutiérrez, M.T.
2005-06-01

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36

Structure and magnetism of atomically thin Fe layers on flat and vicinal Pt surfaces

Repetto, D.; Lee, T. Y.; Rusponi, S.; Honolka, J.; Kuhnke, K.; Sessi, V.; Starke, U.; Brune, H.; Gambardella, Pietro

8 pages, 11 figures.-- PACS nrs.: 75.30.Gw; 75.30.Kz; 75.50.Bb; 75.70.Ak. | Ultrathin Fe films on Pt substrates have been investigated under ultrahigh vacuum conditions by scanning tunneling microscopy, low energy electron diffraction, magneto-optical Kerr effect, x-ray magnetic circular dichroism m...

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37

Structure and magnetism of atomically thin Fe layers on flat and vicinal Pt surfaces

Repetto, D.; Lee, T. Y.; Rusponi, S.; Honolka, J.; Kuhnke, K.; Sessi, V.; Starke, U.; Brune, H.; Gambardella, Pietro; Carbone, C.; Enders, A.; Kern, Klaus
2006-08-04

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38

Stress-induced depolarization of (Pb, La)TiO3 ferroelectric thin films by nanoindentation

Algueró Giménez, Miguel; Bushby, A. J.; Reece, M. J.; Poyato, Rosalia; Ricote Santamaría, Jesús; Calzada Coco, María Lourdes; Pardo Mata, Lorena
2001-12-03

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39

Stress and magnetoelastic properties control of amorphous Fe80B20 thin films during sputtering deposition

Fernández-Martínez, Ivan; Costa Krämer, José Luis; Briones Fernández-Pola, Fernando
2008-06-03

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40

Straindashinduced enhanced solubility of Au in epitaxial films of Fe

Pastor, C. J.; Limones, C.; Hinarejos, J. J.; García, Jorge M.; Miranda, Rodolfo; Gómez-Goñi, J.; Ortega, J. E.; Abruña, H. D.
1996-08-10

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41

Spectroscopic ellipsometry of composite thin films with embedded Bi nanocrystals

Serna, Rosalía; Sande, J. C. G. de; Ballesteros, J. M.; Afonso, Carmen N.
1998-10-15

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42

Sensitivity enhancement of nanoplasmonic sensors in low refractive index substrates

Brian, Björn; Sepúlveda Martínez, Borja; Alaverdyan, Yury; Lechuga, Laura M.; Käll, Mikael
2009-01-01

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43

Room-temperature ferromagneticlike behavior in Mn-implanted and postannealed InAs layers deposited by molecular beam epitaxy

González-Arrabal, R.; González, Yolanda; González, Luisa; García-Hernández, M.; Munnik, F.; Martín-González, M. S.

We report on the magnetic and structural properties of Ar- and Mn-implanted InAs epitaxial films grown on GaAs (100) by molecular beam epitaxy and the effect of rapid thermal annealing (RTA) for 30 s at 750 °C. Channeling particle induced x-ray emission (PIXE) experiments reveal that after Mn implan...

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44

Role of the gold film nanostructure on the nanomechanical response of microcantilever sensors

Mertens, J.; Calleja, M.; Ramos, D.; Tarýn, A.; Tamayo, Javier

In this study, we have determined the relationship between the nanostructure of the gold film deposited on microcantilevers and the sensitivity and reproducibility of their static response to molecular adsorption. In order to tune the properties of the gold film, gold was deposited at different rate...

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45

Role of the gold film nanostructure on the nanomechanical response of microcantilever sensors

Mertens, Johann; Calleja, Montserrat; Ramos Vega, Daniel; Tarýn, A.; Tamayo, Javier
2007-02-05

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48

Remote plasma chemical vapor deposition silicon oxynitride thin films: Dielectric properties

Hernández Vélez, M.; Sánchez Garrido, Olga; Fernández Gutiérrez, F.; Falcony, C.; Martínez Duart, J. M.
1998-05-01

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49

Recubrimientos ópticos en el rango espectral entre 50 y 200 nm | Optical coatings for the spectral range 50 – 200 nm

Fernández Perea, Mónica; Méndez, José Antonio; Larruquert, Juan Ignacio; Aznárez, José Antonio

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50

Real time structural modification of epitaxial FePt thin films under x-ray rapid thermal annealing using undulator radiation

Skuza, J.R.; Lukaszew, R.A.; Dufresne, E.M.; Walko, D.; Clavero, C.; Cebollada, Alfonso; Cionca, C.

Modification of chemical order in epitaxial FePt binary alloy thin films deposited on MgO (100) substrates was induced and investigated in real time using x-ray rapid thermal annealing (XRTA). This is possible because synchrotron undulator radiation has sufficient power density to induce significant...

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51

Real time structural modification of epitaxial FePt thin films under x-ray rapid thermal annealing using undulator radiation

Skuza, J. R.; Lukaszew, R. A.; Dufresne, E. M.; Walko, D. A.; Clavero, C.; Cebollada, Alfonso; Cionca, C.
2007-06-18

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52

Quantum well and resonance-band split off in a K monolayer on Cu(111)

Schiller, F.; Corso, M.; Urdanpilleta, Marta; Ohta, T.; Bostwick, A.; McChesney, J. L.; Rotenberg, E.

4 pp.-- PACS: 73.20.-r, 73.21.-b, 79.60.Dp. | The potassium monolayer on Cu(111) defines the simplest metallic quantum well that confines a single s-like discrete level. The analysis of the metallization onset in such a K adlayer reveals, however, a subtle electronic structure. The metallic monolaye...

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55

Pure magnetooptic diffraction and Kerr microscopy of periodic domain structures

Costa Krämer, José Luis; Bengoechea, A.; Álvarez-Sánchez, R.; Briones Fernández-Pola, Fernando
2005-11-14

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56

Pulsed laser deposition of Cu:Al2O3 nanocrystal thin films with high third-order optical susceptibility

Ballesteros, J. M.; Serna, Rosalía; Solís Céspedes, Javier; Afonso, Carmen N.; Petford Long, A. K.; Osborne, D. H.; Haglund Jr., R. F.
1997-10-27

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57

Propiedades funcionales de láminas delgadas ferroeléctricas de (Pb, La)TiO3

Algueró Giménez, Miguel; Calzada Coco, María Lourdes; Pardo Mata, Lorena
1998-06-01

Digital.CSIC (Spain)

61

Preferential orientation of ferroelectric calcium modified lead titanate thin films grown on various substrates

Ricote Santamaría, Jesús; Calzada Coco, María Lourdes; Mendiola, J.; Chateigner, D.
2002-01-01

Digital.CSIC (Spain)

63

Plasmon-enhanced magneto-optical activity in ferromagnetic membranes

González-Díaz, Juan B.; García-Martín, J.M.; García-Martín, A.; Navas, D.; Asenjo, A.; Vázquez, M.; Hernández-Vélez, M.

Experimental and theoretical evidence of plasmon-enhanced Kerr rotation in purely ferromagnetic membranes with sufficiently small dimensions to be out of extraordinary optical transmission conditions (45 nm pore diameter, 90nm lattice constant), is reported in this work. It is shown that the spectra...

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64

Piroelectricidad en láminas delgadas de titanato de plomo

Jiménez, R.; Ramos, P.; Calzada Coco, María Lourdes; Mendiola, J.
1998-06-01

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65

Photonic Crystals from Ordered Mesoporous Thin-Film Functional Building Blocks

Fuertes, María Cecilia; López-Alcaraz, Francisco Javier; Marchi, María Claudia; Troiani, Horacio E.

Advanced Functional Materials Vol. 17 (8), p. 1247 - 1254 | Environment-sensitive Bragg reflectors are built using functional mesoporous thin films as building blocks. Tuning of optical properties is achieved by changing the composition or porosity of the slabs or the introduction of planar defects....

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66

Photonic Crystals from Ordered Mesoporous Thin-Film Functional Building Blocks

Fuertes, María Cecilia; López-Alcaraz, Francisco Javier; Marchi, María Claudia; Troiani, Horacio E.; Luca, Vittorio; Míguez García, Hernán Ruy; Soler-Illia, Galo Juan De Avila Arturo
2007-01-01

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68

PbTiO3 modificado con Ca: de la cerámica a la lámina | Ca modified PbTiO3: from the bulk ceramic to the film

Mendiola, J.; Alemany, C.; Jiménez, R.; Maurer, E.; Calzada Coco, María Lourdes

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69

PbTiO3 modificado con Ca: de la cerámica a la lámina

Mendiola, J.; Alemany, C.; Jiménez, R.; Maurer, E.; Calzada Coco, María Lourdes
2004-04-01

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71

Orientación de láminas delgadas de (Pb, Ca)TiO3 preparadas por Sol-gel

Calzada Coco, María Lourdes; Jiménez, R.; Mendiola, J.
1999-06-01

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72

Order and phase nucleation in nonequilibrium nanocomposite Fe-Pt thin films with perpendicular magnetic anisotropy

Clavero, C.; Skuza, J. R.; García-Martín, José Miguel; Cebollada, Alfonso; Walko, D. A.; Lukaszew, R. A.
2009-03-31

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73

Nonoxidized Al-overcoated Ir bilayers with high reflectance in the extreme ultraviolet above 50 nm

Larruquert, Juan Ignacio; Méndez, José Antonio; Aznárez, José Antonio
2002-05-22

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74

Nonlinear optical susceptibility of multicomponent tellurite thin film glasses

Muñoz-Martín, David; Fernández Martínez, Héctor; Fernández Navarro, José María; Gonzalo de los Reyes, José

5 pags.; 3 figs.; 2 tabs. | Tellurite (TeO2–TiO2–Nb2O5) thin film glasses have been produced by pulsed laser deposition. The dispersion of the real and imaginary parts of the linear refractive index has been measured in the range from 300 to 1700 nm. Films present high refractive index (n=2.01) and ...

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75

Nonlinear optical susceptibility of multicomponent tellurite thin film glasses

Muñoz-Martín, David; Fernández Martínez, Héctor; Fernández Navarro, José María; Gonzalo de los Reyes, José; Solís Céspedes, Javier; Fierro, Jose L. G.; Domingo Maroto, Concepción; García-Ramos, José Vicente
2008-12-02

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76

Nitrogen incorporation effects in Fe(001) thin films

Menéndez, José Luis; Armelles Reig, Gaspar; Cebollada, Alfonso; Briones Fernández-Pola, Fernando; Peiró, F.; Güell, F.; Cornet, A.; Fernández Gubieda, M. L.; Gutiérrez, J.
2001-06-01

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77

Nitrided FeB amorphous thin films for magneto mechanical systems

Fernández-Martínez, Ivan; Martín-González, Marisol S.; González-Arrabal, Raquel; Álvarez-Sánchez, R.; Briones Fernández-Pola, Fernando; Costa Krämer, José Luis
2008-01-01

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78

Multilayer graphene grown by precipitation upon cooling

García, Jorge M.; He, Rui; Jiang, Mason P.; Kim, Philip; Pfeiffer, Loren N.; Pinczuk, Aron
2010-11-11

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79

Morphological and magnetic properties of Co nanoparticle thin films grown on Si3N4

Presa, B.; Matarranz, R.; Clavero, C.; García-Martín, J.M.; Calleja, J.F.; Contreras, M.C.

The morphological and magnetic properties of Co nanoparticles deposited by triode sputtering on Si3N4 at 550 °C are reported. The nominal thickness of Co ranges from 2 up to 15 nm, and two different capping layers, Au and Pt, are used. The nanoparticles were characterized by x-ray diffraction and ...

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80

Morfología Superficial de Almidones Termoplásticos Agrio de Yuca y Nativo de Papa por Microscopía Óptica y de Fuerza Atómica/ Surface Morphology of Sour Cassava and Native Potato Thermoplastic Starches by Optical and Atomic Force Microscopy

Acosta, Harold A; Villada, Héctor S; Torres, Gerardo A; Ramírez, Juan G
2006-01-01

Resumen en español Se ha evaluado la morfología superficial de almidones termoplásticos (TPS) obtenidos de almidones agrio de yuca y nativo de papa, extruidos con tornillo simple, usando microscopía óptica de alta resolución (OM) y de fuerza atómica (AFM). Muestras de almidones agrio de yuca y nativo de papa más glicerina, se procesaron a 120 ºC y 50 rpm, dando extruidos que se cortaron en láminas delgadas, que se observaron por OM y AFM (modo contacto intermitente). El almidón na (mas) tivo de papa mostró grandes gránulos ovoides y el almidón agrio de yuca reveló el ataque enzimático debido a la fermentación natural. Los TPS mostraron superficies lisas y rugosas dependiendo de la forma y el tamaño del gránulo, de la fermentación natural y del contenido de plastificante. Los TPS nativo de papa exhibieron pocas superficies lisas por OM y alta rugosidad por AFM; lo contrario se presentó con el TPS agrio de yuca, debido a su fermentación natural previa. Estos resultados contribuyen a predecir y entender las propiedades microestructurales, mecánicas y texturales de los almidones termoplásticos Resumen en inglés An evaluation was made of the surface morphology of thermoplastic starches (TPS) from sour cassava and native potato, extruded with a single-screw extruder, using high-resolution optical microscopy (OM) and atomic force microscopy (AFM). Samples of sour cassava starch and native potato starch and glycerine, were processed at 120(0)C and 50 rpm, producing extrudates which were cut into thin films for observation by OM and AFM (intermittent contact mode). Native potato star (mas) ch showed large ovoid granules, while sour cassava starch revealed enzyme attack due to natural fermentation. The TPS had smooth and rough surfaces, depending upon granule size and shape, starch fermentation, and plasticizer content. Native potato TPS presented few smooth surfaces by OM and high roughness by AFM. The opposite was observed with sour cassava TPS, which had experienced some previous natural fermentation. These findings contribute to prediction and understanding of microstructural, mechanical and textural properties of thermoplastic starches

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81

Microstructure, interdiffusion and magnetic properties of ZnO/MnOx multilayers grown by pulse laser deposition

Martín-González, Marisol S.; Steplecaru, C. S.; Briones Fernández-Pola, Fernando; López-Ponce, E.; Fernández Lozano, José Francisco; García, Miguel A.; Quesada, Adrián; Ballesteros, C.; Costa Krämer, José Luis
2010-06-01

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82

Microscopic and macroscopic dielectric description of mixed oxide thin films

Ferrer, F. J.; Yubero Valencia, Francisco; Mejías, J. A.; García-López, F. J.; González-Elipe, Agustín R.
2007-10-30

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84

Mapping the Plasmon Resonances of Metallic Nanoantennas

Bryant, Garnett W.; García de Abajo, F. Javier; Aizpurúa, Javier

6 pages, 7 figures.-- PMID: 18189444 [PubMed]. | We study the light scattering and surface plasmon resonances of Au nanorods that are commonly used as optical nanoantennas in analogy to dipole radio antennas for chemical and biodetection field-enhanced spectroscopies and scanned-probe microscopies. ...

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85

Manipulating quantum-well states by surface alloying: Pb on ultrathin Ag films

Hirahara, T.; Komorida, T.; Sato, A.; Bihlmayer, G.; Chulkov, Eugene V.; He, K.; Matsuda, I.; Hasegawa, S.

6 pages, 6 figures.-- PACS nrs.: 68.35.-p, 73.20.-r, 79.60.-i, 71.18.+y. | The electronic structure of ultrathin Ag films with 1/3 monolayer (ML) of Pb alloyed at the surface was investigated by angle-resolved photoemission spectroscopy. Compared to clean ultrathin Ag films, the energy positions of ...

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86

Manipulating quantum-well states by surface alloying: Pb on ultrathin Ag films

Hirahara, T.; Komorida, T.; Sato, A.; Bihlmayer, G.; Chulkov, Eugene V.; He, K.; Matsuda, I.; Hasegawa, S.
2008-07-03

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87

Magnetotransport properties of oxidized iron thin films

Stankiewicz, Jolanta; Jiménez-Villacorta, Félix; Prieto, Carlos
2006-01-01

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88

Magnetostriction-driven cantilevers for dynamic atomic force microscopy

Penedo García, Marcos; Fernández-Martínez, Ivan; Costa Krämer, José Luis; Luna, Mónica; Briones Fernández-Pola, Fernando
2009-10-09

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89

Magnetoresistance in Thin Permalloy Film (10nm-thick and 30-200nm-wide) Nanocontacts Fabricated by e-Beam Lithography

García García, Nicolás; Cheng, Hao; Lu, Yonhua; Muñoz, Manuel; Yifang, Chen; Zhengqi, Lu; Yun, Zhou

15 pages, 4 figures. Accepted by APL.-- Final full-text version published 24 Aug 2006, available at: http://dx.doi.org/10.1063/1.2337538 | In this paper we show spin dependent transport experiments in nanoconstrictions ranging from 30 to 200nm. These nanoconstrictions were fabricated combining elect...

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90

Magnetoresistance in Thin Permalloy Film (10nm-thick and 30-200nm-wide) Nanocontacts Fabricated by e-Beam Lithography

García García, Nicolás; Cheng, Hao; Lu, Yonhua; Muñoz, Manuel; Yifang, Chen; Zhengqi, Lu; Yun, Zhou; Genhua, Pan; Zheng, Cui; Pasa, A. A.
2006-07-24

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91

Magneto-optical spectra of long range chemically ordered FePd(001) alloy films

Armelles Reig, Gaspar; Weller, D.; Rellinghaus, B.; Caro, P.; Cebollada, Alfonso; Briones Fernández-Pola, Fernando
1997-01-01

Digital.CSIC (Spain)

92

Magnetization reversal asymmetry in Fe/MgO (001) thin films

Costa Krämer, José Luis; Menéndez, José Luis; Cebollada, Alfonso; Briones Fernández-Pola, Fernando; García, D.; Hernando, A.
2000-02-01

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93

Magnetic properties of ultrathin FexCo(1-x) films on Pt(111)

Moulas, G.; Lehnert, A.; Rusponi, S.; Zabloudil, J.; Etz, C.; Ouazi, S.; Etzkorn, M.; Bencok, Peter

14 pages, 14 figures.-- PACS nrs.: 75.70.Ak; 75.30.Gw; 73.20.At. | The magnetism of 1-ML-thick films of Fe(x)Co(1−x) on Pt(111) was investigated both experimentally, by x-ray magnetic circular dichroism and magneto-optical Kerr effect measurements, and theoretically, by first-principles electronic s...

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Magnetic domain structure of nanohole arrays in Ni films

Jaafar, M.; Navas, D.; Asenjo, A.; Vázquez, M.; Hernández-Vélez, M.; García-Martín, J.M.

Nanohole arrays in Ni films have been prepared by a replica/antireplica method based on anodic alumina membranes. The nanohole arrays exhibited long range ordering with hexagonal symmetry, the hole distance was kept constant (105 nm), and the hole diameter and the film thickness were varied between...

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Magnetic domain structure of nanohole arrays in Ni films

Jaafar, M.; Navas, David; Asenjo, A.; Vázquez Valero, Manuela; Hernández Vélez, M.; García-Martín, José Miguel
2007-05-02

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97

Láminas delgadas ferroeléctricas de titanato de plomo modificado con un 20% de lantano

Algueró Giménez, Miguel; Calzada Coco, María Lourdes; Pardo Mata, Lorena
1999-10-01

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98

Low Pressure PECVD of Nanoparticles in carbon thin films from low pressure radiofrequency Ar/H2/C2H2 plasmas. Synthesis of films and analysis of the electron energy distribution function

Camero, Manuel; Gordillo Vázquez, Francisco J.; Gómez-Aleixandre Fernández, Cristina

[Full-text paper not available yet] | A study of the synthesis of carbon nanoparticles embedded in carbon thin films deposited by radiofrequency (RF) (13.56 MHz) Ar/H2 (4 %)/C2H2 plasmas is presented. The carbon nanospheres exhibit an amorphous structure that is clearly observed at 300 W, under 0.1 ...

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100

Linear and quadratic magneto-optical Kerr effects in continuous and granular ultrathin monocrystalline Fe films

Sepúlveda Martínez, Borja; Huttel, Y.; Martínez Boubeta, C.; Cebollada, Alfonso; Armelles Reig, Gaspar
2003-08-01

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101

Laser induced effects on ZnO targets upon ablation at 266 and 308 nm wavelengths

Jadraque, María; Domingo, Concepción; Martín, Margarita

5 pages, 4 figures.-- PACS nrs.: 61.80.Ba, 78.30.Fs, 61.72.jd, 61.82.Rx, 81.15.Fg, 61.50.Nw. | The development of structural changes in ZnO targets, upon laser irradiation at the wavelengths of 266 and 308 nm, is studied by Raman spectroscopy. At the wavelength of 308 nm, oxygen vacancies are found ...

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102

Large magnetorefractive effect in magnetite

SHVETS, IGOR; ARORA, SUNIL KUMAR

We carried out a magneto-optical spectroscopic study of magnetite (Fe3O4) thin films and single crystals at optical wavelengths. We observed a relevant quadratic magneto-optic contribution that can be notably larger than first-order linear magneto-optics at some range of wavelengths in the visible r...

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103

Kondo Effect in Single Atom Contacts: The Importance of the Atomic Geometry

Vitali, Lucia; Ohmann, Robin; Stepanow, Sebastian; Gambardella, Pietro; Tao, Kun; Huang, Renzhong; Stepanyuk, Valeri S.

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104

Influencia del substrato y de los tratamientos térmicos en las propiedades ferroeléctricas de láminas delgadas

Mendiola, J.; Ramos, P.; Jiménez, R.; Calzada Coco, María Lourdes; Martín, M. J.
1998-06-01

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105

Influencia del substracto sobre las propiedades ferroeléctricas de láminas delgadas de PTCa

Jiménez, R.; Mendiola, J.; Poyato, Rosalia; Pardo Mata, Lorena; Alemany, C.
1999-10-01

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107

Influence of the substrate bias voltage on the crystallographic structure and surface composition of Ti6A14V thin films deposited by rf magnetron sputtering

Alfonso, J. E.; Torres, J.; Marco, José Francisco

In this work, the influence of the substrate bias on the crystalline structure and surface composition of Ti6Al4V thin films prepared by rf magnetron sputtering were studied. Samples were grown onto two different types of substrates: AISI 420 steel and common glass using a Ti6Al4V (99.9 %) target. S...

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110

How to prevent twin formation in epitaxial ZnO thin films grown on c-plane sapphire

Steplecaru, C. S.; Martín-González, Marisol S.; Fernández Lozano, José Francisco; Costa Krämer, José Luis
2010-06-01

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111
112

Growth mode and matrix effects on the magneto-optical activity of ultrathin films

Menéndez, José Luis; Armelles Reig, Gaspar; Cebollada, Alfonso; Quintana, C.; Ravelosona, D.; Chappert, C.; Peiró, F.; Cornet, A.
2002-08-26

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113

Growth and characterization of Sn doped ZnO thin films by pulsed laser deposition

López-Ponce, E.; Costa Krämer, José Luis; Martín-González, Marisol S.; Briones Fernández-Pola, Fernando; Fernández Lozano, José Francisco; Caballero Cuesta, Amador; Villegas, Marina; Frutos, J. de
2006-05-01

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114

Free-carrier contribution to the optical response of N-rich Cu3N thin films

Gordillo, Nuria; González-Arrabal, Raquel; Alvarez-Herrero, A.; Agulló-López, F.
2009-07-23

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115

Fotoluminiscencia del Nd3+ en láminas delgadas de LiNbO3

Martín, M. J.; Zaldo, Carlos; Alfonso, J. E.
1998-06-01

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116

Formation of Dispersive Hybrid Bands at an Organic-Metal Interface

González-Lakunza, N.; Fernández-Torrente, I.; Franke, K. J.; Lorente, N.; Arnau Pino, Andrés; Pascual, J. I.

4 pp.-- PACS: 73.61.Ph, 68.35.bm, 68.37.Ef.-- Pre-print available at arXiv: http://arxiv.org/abs/0803.1377. | An electronic band with quasi-one-dimensional dispersion is found at the interface between a monolayer of a charge-transfer complex (TTF-TCNQ) and a Au(111) surface. Combined local spectrosc...

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117

First-principles investigation of structural and electronic properties of ultrathin Bi films

Koroteev, Y. M.; Bihlmayer, G.; Tchulkov, Eugene V.; Bluegel, S.

7 pp.-- PACS: 73.20.-r, 71.18.+y, 71.70.Ej. | Employing first-principles calculations, we perform a systematic study of the electronic properties of thin (one to six bilayers) films of the semimetal bismuth in (111) and (110) orientation. Due to the different coordination of the surface atoms in the...

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118

First-principles investigation of structural and electronic properties of ultrathin Bi films

Koroteev, Yuri M.; Bihlmayer, G.; Tchulkov, Eugene V.; Bluegel, S.
2008-01-28

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120

Ferroelectrics onto silicon prepared by chemical solution deposition methods: from the thin film to the self-assembled systems

Calzada Coco, María Lourdes; Ricote Santamaría, Jesús; Jiménez, R.; Bretos, I.; Ramos, P.; Mendiola, J.; Algueró Giménez, Miguel; Pardo Mata, Lorena
2006-05-01

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121

Fe thin-film growth on Au(100): A self-surfactant effect and its limitations

Blum, V.; Rath, Ch.; Müller, S.; Hammer, L.; Heinz, K.; García, Jorge M.; Ortega, J. E.; Prieto, J. E.; Hernán, O. S.; Gallego, J. M.; Vázquez de Parga, A. L.; Miranda, Rodolfo
1999-06-15

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122

Far-infrared transmission in GaN, AlN, and AlGaN thin films grown by molecular beam epitaxy

Ibáñez, Jordi; Hernández, S.; Alarcón-Lladó, Esther; Cuscó, Ramón; Artús, Lluís; Novikov, S. V.; Foxon, C. T.
2008-07-01

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123

Exchange bias in laterally oxidized Au/Co/Au nanopillars

Balcells Argemi, Lluis; Martínez, B.; Iglesias, O.; García-Martín, J.M.; Cebollada, Alfonso; García, A.

Au/Co/Au nanopillars fabricated by colloidal lithography of continuous trilayers exhibit an enhanced coercive field and the appearance of an exchange bias field with respect to the continuous layers. This is attributed to the lateral oxidation of the Co interlayer that appears upon disk fabrication....

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126

Estudio composicional de láminas delgadas de (Pb, La)TiO3 por espectroscopía de iones retrodispersados

Martín, M. J.; Algueró Giménez, Miguel; Calzada Coco, María Lourdes; Pardo Mata, Lorena; Silva, M. F. da; Soares, J. C.
1998-06-01

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127

Enhanced photoluminescence of nanostructured Er(3+)-doped a-Si/a-Al2O3 thin films prepared by PLD

Toudert, Johann; Núñez Sánchez, Sara; Serna, Rosalía; Jiménez de Castro, Miguel

5 pages, 5 figures.-- Presented as communication to: E-MRS 2007 Spring Meeting, Symposium C: Rare Earth Ion Doping for Photonics: Materials, Mechanisms and Devices (Strasbourg, May 28-Jun 1, 2007).-- Printed version published on Jan 2008. | Enhancement of the 1540 nm emission in nanostructured Er(3+...

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128

Enhanced photoluminescence of nanostructured Er(3+)-doped a-Si/a-Al2O3 thin films prepared by PLD

Toudert, Johann; Núñez Sánchez, Sara; Serna, Rosalía; Jiménez de Castro, Miguel
2007-08-14

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129

Enhanced and oscillatory magnetoresistance of thin Fe(001) films

Martínez-Boubeta, C.; Balcells, LL.; Cebollada, Alfonso

We have studied the magnetoresistance of single-crystalline (001) Fe films prepared by sputtering techniques and covered by epitaxial MgO or Pt protective layers. The influence of the thickness of the magnetic layer as well as of the nature of the capping layer on the Fe anisotropic magnetoresistanc...

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130

Empleo del método matricial en el curso de óptica: capas delgadas antirreflectantes/ Use of matrix method in optics: antireflective thin films

Fuentes Betancourt, J.; Pérez Perdomo, A.; Calzadilla Amaya, O.; Hidalgo Alonso, O.
2005-12-01

Resumen en español Se expone una experiencia didáctica, en el tratamiento de las láminas delgadas dentro del curso de óptica de la Licenciatura en Física. Se busca incrementar el papel del estudiante en el proceso de enseñanza aprendizaje. Se retoman los conocimientos adquiridos en álgebra lineal, computación y óptica. Se utiliza el método matricial para analizar y estudiar el comportamiento de la reflectancia de la radiación luminosa al incidir sobre una lámina multicapa. Tal es (mas) tructura es importante, por cuanto constituye el modelo de un sistema físico de amplio empleo: las celdas solares. Se concluye que la integración de conocimientos, el empleo de las técnicas de computación y su aplicación a un objeto de estudio nuevo, así como la discusión grupal incrementan la motivación y participación del estudiante en la solución del problema. Resumen en inglés A didactic experience has been proposed in the treatment of thin layers as part of the optics course of the Degree in Physics. It is oriented for increasing students role in the process of teaching-learning. Linear algebra, computation and optics contents are reintroduced through the matrix method for analysing and studying light reflection on multilayers, a model of the widely employed physical system like solar cells. It is concluded that by integrating the knowledge ac (mas) quired, computing techniques and their application to a previously unknown study subject, could result in increased motivation due to group debate and participation of students for solving the problem.

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131

Electronic state characterization of SiOx thin films prepared by evaporation

Barranco Quero, Ángel; Yubero Valencia, Francisco; Espinós Manzorro, Juan Pedro; Groening, P.; González-Elipe, Agustín R.
2005-06-08

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132

Electronic signature of MnAs phases in bare and buried films grown on GaAs(001)

Moreno, M.; Kumar, A.; Tallarida, M.; Ney, A.; Ploog, K. H.
2008-08-15

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134

Effects of Stress and Morphology on the Resistivity and Critical Temperature of Room-Temperature-Sputtered Mo Thin Films

Fàbrega, Lourdes; Fernández-Martínez, Ivan; Parra-Borderías, María; Gil, Óscar; Camón, Agustín; González-Arrabal, Raquel; Sesé, Javier; Santiso, José; Costa Krämer, José Luis; Briones Fernández-Pola, Fernando
2009-09-04

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137

Efecto del argon en películas CNxHy depositadas mediante ECR-CVD

Gómez-Aleixandre Fernández, Cristina; Albella Martín, José María; Gago, Raul; Camero, Manuel
2004-03-01

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138

Drastic changes of the domain size in an ultrathin magnetic film

Kisielewski, M.; Maziewski, A.; Zablotskii, V.; Polyakova, T.; García, Jorge M.; Wawro, A.; Baczewski, L. T.
2003-05-15

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140

Dielectric properties of Pb0.5Ca0.5TiO3 thin films

Mendiola, J.; Jiménez, R.; Ramos, P.; Alemany, C.; Bretos, I.; Calzada Coco, María Lourdes
2005-07-01

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141

Device for determining the porosity of thin films and use thereof

Barranco Quero, Ángel; Borrás Martos, Ana Isabel; Sánchez Valencia, Juan Ramón; González-Elipe, Agustín R.; Espinós Manzorro, Juan Pedro; Yubero Valencia, Francisco
2010-05-31

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142

Determination of texture by infrared spectroscopy in titanium oxide–anatase thin films

Pecharromán García, Carlos; Gracía, Francisco; Holgado, Juan P.; Ocaña Jurado, Manuel; González-Elipe, Agustín R.; Bassas, J.; Santiso, José; Figueras, Albert
2003-04-15

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144

Depósito mediante ablación con láser de láminas delgadas de (Pb,La) TiO3 y ZnO sobre (100) InP

Román García, Elisa Leonor; Vasco, E.; Zaldo, Carlos; Vázquez, Luis; Böhme, O.
1999-10-01

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145

Deposición y caracterización de recubrimientos de carburo de silicio depositados sobre un acero inoxidable por la técnica de ablación láser/ Deposition and characterization of silicon carbide coatings deposited on stainless steel by the technique of ablation laser

SALAS P, KEYFFER J; GARCÍA, VICTOR J; BRICEÑO V, JOSÉ M; FERNÁNDEZ, FREDDY; MARTÍN, JUAN; NOVÁK, RUDOLF
2006-01-01

Resumen en español El carburo de silicio posee un conjunto de propiedades físicas, químicas y mecánicas (e.g., alta resistencia mecánica, elevada dureza, excelente resistencia al desgaste, resistencia a la corrosión y oxidación, estabilidad térmica, entre otras) que lo hacen un candidato importante en aplicaciones industriales (e.g. sellos mecánicos). Estas propiedades se deben fundamentalmente al enlace covalente entre silicio y carbono, así como también, a su coordinación tetra (mas) édrica. El mejoramiento de las propiedades de la superficie de los materiales es un área de constante estudio e interés. Por ello nuestro propósito es mejorar las propiedades de la superficie del acero inoxidable AISI 316L, al depositar una fina película de SiC usando una técnica conocida como ABLACIÓN LÁSER. Para ello, se utiliza un láser excimer de 248 nm, con una fluencia de 54 mJ / pulso , frecuencia de 0 - 40 Hz y duración de 25 ns. Los recubrimientos fueron caracterizados utilizando Difracción de Rayos X (DRX), Raman, Microscopia Electrónica de Barrido (MEB), Energía de los Fotones de Rayos X y microindentación estática. Los patrones de DRX confirmaron la presencia del politipo 6H del carburo de silicio, lo cual fue corroborado por los resultados Raman donde se muestran los modos característicos transversales TO1 y TO2 y Longitudinal Óptico LO del SiC. Con la ayuda del MEB se pudo ver la morfología del recubrimiento mostrándose bien conformado y homogéneo, con un espesor ~ 0,16 μm, además las pruebas de microindentación indican que la dureza de la película depositada es del orden de ~ 2000 Hv. El análisis EDX sugiere la presencia de tres fases en el material depositado: SiC, C y Si. Resumen en inglés Silicon carbide is an important material for industrial applications. Silicon carbide has a height strength, extremes hardness, and excellent wear resistance; but also has very good resistance to oxidation and corrosion, and height thermal stability. These properties are mainly due to the covalent bonds between Si and C atoms and to the tetrahedral coordination between them. The enhancement of the surface properties is an area of constant study and interest. We used Pulse (mas) d Laser Ablation (PLA) to deposit a thin film of SiC on the stainless steel surface. The purpose of this work was the enhancement of the surface properties of stainless steel AISI 316L. The ablation of the target material is carry out by an excimer laser with a wave length of 248 nm, 54 mJ/pulse and frequency of pulse repetition between 0 and 40 Hz with pulse width of 25 ns. The thin films were characterized using x-ray diffraction, Scanning Electron Microscopy (SEM), Energy Disperse X-ray (EDX) and vicker micro hardness. The diffraction pattern of the deposited films is in agreement with the pattern of SiC (politipo 6H). The Raman spectroscopy results are in accord with the x-ray results. Secondary-electron images of SiC thin films a homogeneous film, very well conformed with a thick of ~0,16 μm. The vicker hardness of the films is around ~2000 Hv. EDX analysis suggests the present of three phases in the as deposited material: SiC, C and Si. These results were with backscattering-electron images.

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148

Controlling the transmission at the surface plasmon resonance of nanocomposite films using photonic structures

Suárez García, A.; Coso López, Raúl del; Serna, Rosalía; Solís Céspedes, Javier; Afonso, Carmen N.
2003-09-01

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149

Controlled Nucleation and Growth of Thin Hydroxyapatite Layers on Titanium Implants by Using Induction Heating Technique

Gómez-Morales, J.; Rodríguez Clemente, Rafael; Armas, B.; Combescure, C.; Berjoan, R.; Cubo, J.; Martínez, E.; García Carmona, Jesús; Garelik, S.; Murtra, J.; Muraviev, Dmitri
2004-05-26

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150

Composition and morphology of metal-containing diamond-like carbon films obtained by reactive magnetron sputtering

Corbella, C.; Pascual, E.; Oncins, G.; Canal, Cristina; Andújar, J. L.; Bertrán, Enric
2005-01-06

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151

Comment on "Huge excitonic effects in layered hexagonal boron nitride"

Wirtz, Ludger; Marini, Andrea; Grüning, Myrta; Attaccalite, Claudio; Kresse, Georg; Rubio Secades, Ángel

1 page.-- PACS: 71.35.Cc, 71.15.Mb, 78.20.-e.-- Original paper "Huge excitonic effects in layered hexagonal boron nitride" available at arXiv: http://arxiv.org/abs/cond-mat/0503390v1. | A Comment on the Letter by B. Arnaud et al., [Phys. Rev. Lett. 96, 026402 (2006)10.1103/PhysRevLett.96.026402]. Th...

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152

Coercivity analysis in sputtered Sm–Co thin films

Prados, C.; Hernando, Antonio; Hadjipanayis, G. C.; González Fernández, Jesús María
1999-04-15

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153

Closure magnetization configuration around a single hole in a magnetic film

Rodríguez-Rodríguez, G.; Rubio, H.; Vélez, M.; Pérez-Junquera, A.; Anguita, José Virgilio; Martín, J. I.; Alameda, J. M.
2008-11-17

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154

Capping layer effects in the structure and composition of Co nanoparticle ultrathin films

Arbiol, J.; Peiró, F.; Cornet, A.; Clavero, C.; Cebollada, Alfonso; Armelles Reig, Gaspar; Huttel, Y.
2005-01-12

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155

Buffer layer morphology effects on the ordering of epitaxial FePd(001) thin films

Caro, P.; Cebollada, Alfonso; Ravelosona, D.; Tamayo, Javier; García García, Ricardo; Briones Fernández-Pola, Fernando
1998-01-01

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156

Bonding and hardness in nonhydrogenated carbon films with moderate sp3 content

Gago, Raul; Jiménez Guerrero, Ignacio; Albella Martín, José María; Climent-Font, A.; Cáceres, D.; Vergara, I.
2000-06-01

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157

Behavior of oxygen doped SiC thin films: An x-ray photoelectron spectroscopy study

Ávila, A.; Montero Herrero, Isabel; Galán, L.; Ripalda, J. María; Levy, R. A.
2001-01-01

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158

Ballistic magnetoresistance in a nanocontact between a Ni cluster and a magnetic thin film

Muñoz, Manuel; Qian, G. G.; Karar, N.; Cheng, Hao; Saveliev, I. G.; García García, Nicolás; Moffat, T. P.; Chen, P. J.; Gan, L.; Egelhoff Jr., W. F.
2001-10-29

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159

Anomalous Hall effect in Fe (001) epitaxial thin films over a wide range in conductivity

Sangiao, S.; Morellón, Luis; Simón, G.; Teresa, José María de; Pardo, J. A.; Arbiol, J.; Ibarra, Ricardo

5 pages, 5 figures.-- PACS nrs.: 75.47.-m; 73.50.Jt; 75.50.Bb.-- ©2009 The American Physical Society. | We report Hall-effect measurements of epitaxial Fe (001) thin films grown on MgO (001). We have focused on the dependence of the anomalous Hall effect (AHE) in heteroepitaxial structures MgO (001...

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160

Anomalous Hall effect in Fe (001) epitaxial thin films over a wide range in conductivity

Sangiao, S.; Morellón, Luis; Simón, G.; Teresa, José María de; Pardo, J. A.; Arbiol, J.; Ibarra, M. Ricardo
2009-01-23

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161

Anomalous Dielectric Behavior of Water in Ionic Newton Black Films

Faraudo, Jordi; Bresme, Fernando

4 pages, 2 figures.-- PMID: 15245172 [PubMed].-- PACS nrs.: 68.15.+e, 02.70.Ns, 77.22.Ch, 82.45.Mp. | The electrostatics of two charged surfactant layers in aqueous media (surfactant/water/surfactant films) is investigated using molecular dynamics simulations. In the films studied (with a surfactant...

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163

Anisotropic conductivity of silver thin films grown on silicon (100) vicinal surfaces

López-Ríos, T.; Briggs, A; Guillet, S.; Baro, A.M.; Luna, M.

The electrical conductivity between 4 and 300 K of Ag thin films (up to 30 mm grown at room temperature on Si(100) vicinal surfaces has been measured and their morphology imaged with an atomic force microscope. A noticeable anisotropy of the resistivity of the films which is related to the structure...

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164

Anisotropic conductivity of silver thin films grown on silicon (100) vicinal surfaces

López-Ríos, T.; Briggs, A; Guillet, S.; Baró, A. M.; Luna, Mónica
1995-01-23

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