Sample records for ELECTRETOS (electrets)
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Sample records 1 - 2 shown.



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Campos eléctricos generados por elipsoides uniformemente polarizados

Solivérez, C.E
2008-12-01

Resumen en español Se expresan los campos eléctricos , dentro y fuera de elipsoidales uniformemente polarizados, en términos de integrales elípticas y sin necesidad de resolver ecuaciones diferenciales. Las expresiones son válidas para materiales homogéneos cualesquiera, sean isótropos o anisótropos, sean electretos, dieléctricos o conductores. Se dan las expresiones explícitas del campo inducido (mas) 0 width=36 height=24 src="/img/revistas/rmfe/v54n2/a13s1.jpg">para esferas dieléctricas y conductoras inmersas en campos aplicados constantes y uniformes Resumen en inglés The electric fields ), inside and outside uniformly polarised ellipsoidal electrets, dielectrics and conductors, is given in terms of elliptic integrals. The derivation, valid for homogeneous isotropic and anisotropic materials, makes no recourse to differential equations. The full expression of the induced for spherical bodie (mas) s embedded in uniform aplied constant electric fields, either dielectrics or conductors, is explicity given

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Interacción punta-muestra dieléctrica en microscopía de fuerza electrostática/ Electrostatic tip-dielectric sample interaction in electrostatic force microscopy

Gómez, Ariel; Ávila, Alba Graciela; Massy, Gergory Ibrahim
2009-12-01

Resumen en español La microscopía de fuerza electrostática es una técnica de medición de propiedades eléctricas locales de materiales. Las mediciones de gradiente de fuerza eléctrica sobre muestras dieléctricas son sensibles no sólo a la distribución de carga inicial en la misma sino también a la carga inducida por la punta de prueba conductora. Interpretar las contribuciones de cada efecto de forma independiente constituye un reto vigente de la técnica. Se introduce un modelo te (mas) órico que permite estudiar los efectos de carga e inducción para muestras y puntas de prueba con geometrías reales. El mismo modelo a partir de mediciones de gradiente de fuerza estima la carga inicial de la muestra. Las estimaciones de gradiente de fuerza reproducen mediciones experimentales realizadas en muestras dieléctricas cargadas. Resumen en inglés Electric force microscopy is a local technique for measuring electrical properties of materials. The electrostatic force gradient measurements on dielectric samples are sensitive not only to the initial charge distribution in the sample but also to the charge induced by the conductive bias cantilever. Interpreting the contribution of each single effect on the charge distribution images is a challenge in the existing EFM technique. Here, a theoretical model is introduced t (mas) o study the charge and induction effect on charged dielectric samples and commercial geometries for EFM tips. This model estimates the initial charge of the sample based on force gradient measurements. Gradient force results reproduce experimental measurements performed on electrets samples.

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