Sample records for ESPECTROSCOPIA AUGER (auger electron spectroscopy)
from WorldWideScience.org

Sample records 1 - 12 shown.



1

Substrate/layer interface of amorphous-carbon hard coatings

Böhme, O.; Cebollada, Alfonso; Yang, S.; Teer, D. G.; Albella Martín, José María; Román García, Elisa Leonor
2000-08-15

Digital.CSIC (Spain)

2

Spectroscopy and lifetime measurements of states in 76Kr populated in 76Rb decay

Giannatiempo, A.; Perego, A.; Sona, P.; Nannini, A.; Mach, H.; Fogelberg, B.; García Borge, María José; Tengblad, Olof; Fraile, Luis M.; Aas, A. J.; Gulda, K.
2005-10-24

Digital.CSIC (Spain)

3

Spatial and chemical interface asymmetry in Fe/MgO/Fe(001) heterostructures

Palomares, F. J.; Munuera, C.; Martínez Boubeta, C.; Cebollada, Alfonso
2005-01-14

Digital.CSIC (Spain)

4

Size and shape of supported zirconia nanoparticles determined by x-ray photoelectron spectroscopy

Yubero Valencia, Francisco; Mansilla, C.; Ferrer, F. J.; Holgado, Juan P.; González-Elipe, Agustín R.
2007-06-26

Digital.CSIC (Spain)

5

Preparación de películas delgadas del sistema Ti-Al-O mediante rf-sputtering


2010-04-01

En el presente trabajo se sintetizaron películas delgadas del sistema Ti-Al-O mediante la técnica rf-sputtering sobre sustratos de vidrio y silicio (Si), usando blancos de compuestos intermetálicos de TiAl y Ti3Al en una cámara con atmósfera de Ar-O2. Las películas de Ti-Al-O fueron obtenidas variando parámetros experimentales, tales como el porcentaje de oxígeno alimentado a la cámara de reacción, la densidad de potencia del plasma y la temperatura del sustrato

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6

Microscopic and macroscopic dielectric description of mixed oxide thin films

Ferrer, F. J.; Yubero Valencia, Francisco; Mejías, J. A.; García-López, F. J.; González-Elipe, Agustín R.
2007-10-30

Digital.CSIC (Spain)

7

Metallization-induced spontaneous silicide formation at room temperature: The Fe/Si case

Gallego, J. M.; García, Jorge M.; Álvarez, J.; Miranda, Rodolfo
1992-11-15

Digital.CSIC (Spain)

8

Mechanical behavior and oxidation resistance of Cr(Al)N coatings

Sánchez López, Juan Carlos; Martínez-Martínez, D.; López Cartes, C.; Fernández Camacho, Asunción; Brizuela, M.; García Luis, A.; Oñate, J. I.
2005-06-21

Digital.CSIC (Spain)

9

Electronic state characterization of SiOx thin films prepared by evaporation

Barranco Quero, Ángel; Yubero Valencia, Francisco; Espinós Manzorro, Juan Pedro; Groening, P.; González-Elipe, Agustín R.
2005-06-08

Digital.CSIC (Spain)

10

Depósito de TiN sobre herramientas de corte para uso industrial

Auger, M. A.; Sánchez Garrido, Olga; Albella Martín, José María
2004-03-01

Digital.CSIC (Spain)

11

Decay of the 02+ state in 80Kr

Giannatiempo, A.; Nannini, A.; Perego, A.; Sona, P.; García Borge, María José; Riisager, K.; Tengblad, Olof
1993-02-01

Digital.CSIC (Spain)

12

Concepción y preparación de un recubrimiento protector en forma de película compósito a base de carburo de titanio


2007-10-01

Los nitruros y carburos de metales de transición (p.e. Ti, V, Hf, etc.) son ampliamente conocidos como materiales refractarios debido a su alto punto de fusión, elevada dureza y elevado modulo de Young. Sin embargo, su fragilidad induce una baja resistencia a la fisuración, sobre todo cuando estos materiales se depositan sobre sustratos con un coeficiente de dilatacion térmica muy diferente. En el campo de materiales, diversas técnicas de depósito han sido utilizada

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